基于片段间转移的低功耗测试结构研究与实现
| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 插图索引 | 第9-10页 |
| 附表索引 | 第10-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| ·集成电路测试 | 第11-12页 |
| ·测试的意义 | 第11页 |
| ·测试的分类 | 第11-12页 |
| ·低功耗技术 | 第12-14页 |
| ·研究目的及意义 | 第14页 |
| ·本文主要工作 | 第14-15页 |
| ·本文组织结构 | 第15-16页 |
| 第2章 低功耗数字电路测试理论基础 | 第16-28页 |
| ·引言 | 第16页 |
| ·数字电路测试技术 | 第16-23页 |
| ·测试设备 | 第17-18页 |
| ·测试生成 | 第18页 |
| ·故障模型与故障模拟 | 第18-21页 |
| ·响应分析 | 第21页 |
| ·可测试性设计 | 第21-23页 |
| ·电路测试功耗 | 第23-28页 |
| ·测试功耗 | 第23-24页 |
| ·低功耗测试技术 | 第24-28页 |
| 第3章 基于片段间转移的低功耗BIST策略 | 第28-40页 |
| ·内建自测试 | 第28-32页 |
| ·BIST过程 | 第28-29页 |
| ·BIST测试向量生成 | 第29-30页 |
| ·LFSR原理及基本结构 | 第30-32页 |
| ·测试向量统计分析 | 第32-34页 |
| ·片段间转移准则 | 第34-38页 |
| ·功耗最小准则 | 第34-35页 |
| ·基于遗传算法的片断转移算法 | 第35-38页 |
| ·低功耗BIST策略 | 第38-39页 |
| ·小结 | 第39-40页 |
| 第4章 基于片段间转移的低功耗BIST结构实现 | 第40-47页 |
| ·BIST结构实现 | 第40-42页 |
| ·低功耗BIST结构的组成 | 第40-41页 |
| ·低功耗BIST结构工作过程 | 第41-42页 |
| ·仿真实验 | 第42-46页 |
| ·故障模拟软件HOPE介绍 | 第42-45页 |
| ·仿真结果及分析 | 第45-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第5章 用于被测电路自反馈测试的反馈输入生成算法 | 第47-58页 |
| ·引言 | 第47-48页 |
| ·被测电路自反馈测试的基本思想 | 第48-49页 |
| ·基于异或的反馈输入生成算法 | 第49-53页 |
| ·算法基本思想 | 第49-51页 |
| ·算法描述与实现 | 第51-53页 |
| ·降低硬件开销 | 第53-55页 |
| ·理论基础 | 第54-55页 |
| ·添加移位寄存器 | 第55页 |
| ·仿真结果及分析 | 第55-56页 |
| ·小结 | 第56-58页 |
| 结论 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 附录A 攻读硕士期间发表的论文 | 第64页 |
