| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| 1. 集成电路的发展趋势 | 第7页 |
| 2. 验证在芯片生产过程中的重要性 | 第7-8页 |
| 3. 研究此课题的目的与意义 | 第8页 |
| 4. 课题来源 | 第8页 |
| 5. 论文结构及本文贡献 | 第8-9页 |
| 第二章 自动化的功能验证 | 第9-25页 |
| ·功能验证途径和仿真器 | 第9-12页 |
| ·验证方法 | 第12-18页 |
| ·传统的验证方法 | 第12-14页 |
| ·传统验证方法采用的验证步骤 | 第12-14页 |
| ·传统的验证方法存在的问题 | 第14页 |
| ·覆盖率驱动的验证方法 | 第14-17页 |
| ·代码覆盖率 | 第14-15页 |
| ·功能覆盖率 | 第15-16页 |
| ·代码覆盖率与功能覆盖率的比较 | 第16-17页 |
| ·本文所采用的覆盖率验证方法 | 第17-18页 |
| ·验证自动化 | 第18-20页 |
| ·验证自动化理论 | 第18-20页 |
| ·验证自动化工具 | 第20页 |
| ·验证重用 | 第20-22页 |
| ·验证语言及验证工具 | 第22-25页 |
| 第三章 E语言及SpecmanElite工具 | 第25-31页 |
| ·一些基本的术语 | 第25-26页 |
| ·验证平台的组成 | 第26-27页 |
| ·相关概念:Group和Item | 第27-28页 |
| ·E语言功能覆盖率分析 | 第28-29页 |
| ·E语言功能覆盖率的意义 | 第29页 |
| ·关于E的功能覆盖问题 | 第29-30页 |
| ·方法论需求 | 第30-31页 |
| 第四章 复杂协议处理芯片验证 | 第31-55页 |
| ·复杂协议处理芯片 | 第31-32页 |
| ·验证策略-提高模块到系统可集成性 | 第32-33页 |
| ·可重用的数据报文的产生 | 第33-35页 |
| ·定义sequence | 第35-39页 |
| ·约束与随机-测试向量的产生 | 第39-42页 |
| ·Testbench、RM和Scoreboard的搭建 | 第42-43页 |
| ·脚本的应用 | 第43-47页 |
| ·E语言的功能覆盖 | 第47-52页 |
| ·功能覆盖的全过程 | 第47-49页 |
| ·覆盖率分析 | 第49-52页 |
| ·功能覆盖率定义 | 第52页 |
| ·使用message()打印信息 | 第52-53页 |
| ·结果分析 | 第53-55页 |
| 第五章 结论 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 研究成果 | 第61-63页 |
| 附录 | 第63-68页 |
| 附录A 以太网相关协议 | 第63-65页 |
| 附录B MPLS相关协议 | 第65-67页 |
| 附录C HDLScore的工作步骤 | 第67-68页 |