SATA内建自测试的电路设计与实现

摘要	第1-5页
ABSTRACT	第5-7页
第一章 绪论	第7-13页
·SATA概述	第7-9页
·SATA物理层结构简介	第9-10页
·论文的内容安排	第10-13页
第二章 内建自测试技术	第13-24页
·内建自测试技术的基本思路	第13-14页
·BIST中的状态图分析法	第14-15页
·串行BIST结构	第15-18页
·并行BIST结构	第18-20页
·内建自测试与其他测试技术的结合	第20-24页
第三章 伪随机序列发生器原理	第24-32页
第四章 SATA内建自测试的各种测试信号	第32-42页
·不规则测试信号	第32页
·测试信号及其特征	第32-42页
·低转换密度信号	第33-35页
·高转换密度信号	第35-37页
·低频分量信号	第37-38页
·同步转换输出信号	第38-39页
·单独位信号	第39-42页
第五章 测试信号及BER测试器的电路设计	第42-48页
·BER测试器结构图简介	第42-43页
·伪随机信号发生器及其误码率测试器	第43-44页
·最坏情况测试信号发生器及其误码率测试器	第44-45页
·电路版图设计	第45-48页
结束语	第48-50页
致谢	第50-52页
参考文献	第52-54页
在读期间研究成果	第54-56页
附录	第56-71页