| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 致谢 | 第8-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-21页 |
| ·系统芯片 SoC测试 | 第13-15页 |
| ·SoC相关背景 | 第13-14页 |
| ·SoC设计的特点 | 第14页 |
| ·SoC测试简介 | 第14-15页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第15-16页 |
| ·国内外研究现状 | 第16-18页 |
| ·课题来源、创新点及文章结构安排 | 第18-21页 |
| ·课题来源及创新点 | 第18-19页 |
| ·本论文章节安排 | 第19-21页 |
| 第二章 SoC测试数据压缩技术 | 第21-39页 |
| ·BIST技术 | 第21-26页 |
| ·LFSR编码 | 第23-24页 |
| ·折叠计数器重播种 | 第24-26页 |
| ·BOST技术 | 第26-27页 |
| ·测试集紧缩 | 第26页 |
| ·测试数据压缩 | 第26-27页 |
| ·测试数据压缩技术 | 第27-38页 |
| ·定长到定长编码 | 第27-29页 |
| ·定长到变长编码 | 第29-33页 |
| ·变长到定长编码 | 第33-34页 |
| ·变长到变长编码 | 第34-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 基于变长数据块相关性统计的测试数据压缩方法 | 第39-49页 |
| ·变长数据块相关性统计压缩方法思想 | 第39-42页 |
| ·思想来源 | 第39-40页 |
| ·本方案思想描述 | 第40-42页 |
| ·算法描述 | 第42-43页 |
| ·编码实例 | 第43页 |
| ·解码体系结构及原理 | 第43-46页 |
| ·实验结果 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 第四章 基于连续及非连续块编码的测试数据压缩方法 | 第49-59页 |
| ·思想来源 | 第49页 |
| ·连续及非连续长度块编码思想 | 第49-50页 |
| ·编码规则 | 第50-51页 |
| ·编码实例 | 第51-52页 |
| ·算法描述 | 第52-53页 |
| ·基于向量差分的连续及非连续块编码 | 第53-54页 |
| ·测试向量差分技术 | 第53-54页 |
| ·基于差分的本方案 | 第54页 |
| ·解码体系结构及原理 | 第54-57页 |
| ·实验结果 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 总结与展望 | 第59-62页 |
| ·全文总结 | 第59-60页 |
| ·工作展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 附录 | 第66页 |
| 攻读硕士学位期间撰写的论文 | 第66页 |
| 研究生阶段参加的项目 | 第66页 |