| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| ·研究的背景 | 第11-12页 |
| ·研究现状 | 第12-13页 |
| ·课题来源和本课题工作 | 第13页 |
| ·本文章结构安排 | 第13-15页 |
| 第二章 测试概述及低功耗研究 | 第15-29页 |
| ·基于RAS结构的测试 | 第15-16页 |
| ·系统芯片SoC | 第16-20页 |
| ·SoC的优越性 | 第17页 |
| ·SoC测试特性 | 第17-18页 |
| ·SoC测试分类 | 第18-20页 |
| ·集成电路的测试 | 第20-26页 |
| ·故障模型 | 第21-22页 |
| ·故障模拟 | 第22-24页 |
| ·测试分类 | 第24-25页 |
| ·测试生成 | 第25-26页 |
| ·测试数据压缩方法 | 第26-29页 |
| ·数据压缩方法概述 | 第26-27页 |
| ·FDR码简介 | 第27-29页 |
| 第三章 基于折叠集的低功耗测试 | 第29-37页 |
| ·概述 | 第29页 |
| ·折叠计数工作原理简介 | 第29-31页 |
| ·测试数据压缩处理 | 第31-33页 |
| ·建议方案的目标结构 | 第33-35页 |
| ·实验结果与分析 | 第35-36页 |
| ·结论 | 第36-37页 |
| 第四章 基于RAS结构优化测试时间和数据量的测试方案 | 第37-44页 |
| ·概述 | 第37-38页 |
| ·折叠集回顾与测试数据处理 | 第38-39页 |
| ·RAS扫描单元组织 | 第39-40页 |
| ·综合过程和参数分析 | 第40-41页 |
| ·实验结果及分析 | 第41-42页 |
| ·结论 | 第42-44页 |
| 第五章 结束语 | 第44-46页 |
| ·总结 | 第44页 |
| ·今后工作展望 | 第44-46页 |
| 参考文献 | 第46-50页 |
| 附录 | 第50页 |
| 在校期间发表的论文 | 第50页 |
| 在校期间参与的科研项目 | 第50页 |