| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·集成电路ATE 发展过程及国内外研究现状 | 第9-10页 |
| ·本课题的研究意义 | 第10-11页 |
| ·本课题来源 | 第11页 |
| ·本课题的研究内容及目标 | 第11-13页 |
| 第二章 集成电路测试技术 | 第13-28页 |
| ·IC 测试的必要性 | 第13-14页 |
| ·IC 测试的分类 | 第14-17页 |
| ·IC 可测试性设计 | 第17-18页 |
| ·集成电路测试技术 | 第18-23页 |
| ·逻辑功能测试基本概念 | 第19-21页 |
| ·直流参数测试基本概念 | 第21-23页 |
| ·集成电路自动测试流程 | 第23-24页 |
| ·ATE | 第24-26页 |
| ·小结 | 第26-28页 |
| 第三章 数字IC 自动测试设备关键技术研究 | 第28-53页 |
| ·自动测试设备系统架构 | 第28-34页 |
| ·控制板 | 第30-31页 |
| ·测试通道板 | 第31-33页 |
| ·总线主板 | 第33-34页 |
| ·电源板 | 第34页 |
| ·逻辑功能（Logic Function）测试单元设计 | 第34-44页 |
| ·硬件设计 | 第36-42页 |
| ·功能测试单元硬件实验 | 第42-44页 |
| ·直流参数测试单元设计 | 第44-52页 |
| ·直流参数测试单元硬件设计 | 第46-48页 |
| ·直流参数测试单元的测量方法 | 第48-50页 |
| ·直流参数测量单元实验 | 第50-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第四章 直流参数测量单元验证方案 | 第53-72页 |
| ·测试芯片 | 第53-55页 |
| ·芯片概况 | 第53-54页 |
| ·芯片测试要求 | 第54-55页 |
| ·设计方案 | 第55-62页 |
| ·测试要求解析 | 第55-56页 |
| ·MCU 控制芯片MSP430 | 第56-58页 |
| ·基于DAC7571 程控电源设计 | 第58-61页 |
| ·基于AD974 参数量测电路设计 | 第61-62页 |
| ·LCD 显示屏 | 第62页 |
| ·FUSE 修条 | 第62-66页 |
| ·测试流程状态机 | 第66-68页 |
| ·实验报告 | 第68-71页 |
| ·小结 | 第71-72页 |
| 第五章 直流参数测量单元自动测试性能验证 | 第72-78页 |
| ·DUT 板卡连接图 | 第72-73页 |
| ·实验 | 第73-77页 |
| ·小结 | 第77-78页 |
| 第六章 结论和展望 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-84页 |
| 附件 | 第84-106页 |
| 附件一 数字IC 自动测试设备控制板电路图 | 第84-85页 |
| 附件二 直流参数测量单元PCB 电路图 | 第85-86页 |
| 附件三 逻辑功能测试单元PCB 电路图 | 第86-87页 |
| 附件四 直流参数测量单元验证板PCB 电路图 | 第87-88页 |
| 附件五 直流参数测量单元验证板MCU 程序 | 第88-104页 |
| 附件六 产品测试记录（一） | 第104-105页 |
| 附件七 产品测试记录（二） | 第105-106页 |
| 攻读硕士期间取得的成果 | 第106-107页 |