基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法研究
| 摘要 | 第1-9页 |
| Abstract | 第9-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| ·引言 | 第12-13页 |
| ·基于扫描设计的研究概况 | 第13-15页 |
| ·本文研究目的与意义 | 第15-16页 |
| ·本文主要工作 | 第16-17页 |
| ·本文组织结构 | 第17-18页 |
| 第2章 电路测试中的基本概念和扫描设计 | 第18-24页 |
| ·引言 | 第18页 |
| ·电路测试中的基本概念 | 第18-19页 |
| ·故障 | 第18页 |
| ·故障模型 | 第18-19页 |
| ·故障等价与故障精简 | 第19页 |
| ·故障覆盖率 | 第19页 |
| ·扫描设计 | 第19-22页 |
| ·小结 | 第22-24页 |
| 第3章 扩展相容性扫描树结构 | 第24-32页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·扩展相容性扫描树 | 第24-28页 |
| ·基本原理 | 第24-27页 |
| ·构造算法 | 第27-28页 |
| ·数据统计与分析 | 第28-31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第4章 基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法 | 第32-45页 |
| ·引言 | 第32页 |
| ·加权算法 | 第32-41页 |
| ·减少扫描输出的规则 | 第32-36页 |
| ·被测电路整体相容性评定 | 第36页 |
| ·相容类加权算法 | 第36-40页 |
| ·扫描树的优化 | 第40-41页 |
| ·实验结果 | 第41-44页 |
| ·结论 | 第44-45页 |
| 第5章 相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法改进 | 第45-59页 |
| ·引言 | 第45页 |
| ·改进算法 | 第45-52页 |
| ·根据包含X 的个数来选取扫描单元 | 第46-48页 |
| ·选取度较小的扫描单元组成异或类 | 第48-50页 |
| ·异或类再进行异或生成新的异或类 | 第50-52页 |
| ·实验结果与分析 | 第52-57页 |
| ·小结 | 第57-59页 |
| 结束语 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 附录A 攻读硕士期间发表的论文 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
