80C51 IP软核测试与应用技术研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 序 | 第8-11页 |
| 1 SoC与IP技术 | 第11-16页 |
| ·基于IP核复用的SoC | 第11-14页 |
| ·SoC概述 | 第11页 |
| ·IP核设计复用技术 | 第11-14页 |
| ·课题意义及说明 | 第14-15页 |
| ·本文工作内容 | 第15-16页 |
| 2 可复用IP核验证技术 | 第16-22页 |
| ·IP核验证概述 | 第16-18页 |
| ·验证方法分类 | 第16-17页 |
| ·IP软核验证 | 第17-18页 |
| ·IP软核测试 | 第18-22页 |
| ·测试平台 | 第18-19页 |
| ·IP软核测试策略 | 第19-22页 |
| 3 80C51 IP软核结构与测试 | 第22-32页 |
| ·80C51 IP软核结构 | 第22-26页 |
| ·主要特征 | 第22-23页 |
| ·设计层次 | 第23-25页 |
| ·模块划分 | 第25-26页 |
| ·80C51 IP软核测试 | 第26-32页 |
| ·80C51 IP软核结构分析 | 第26-27页 |
| ·80C51 IP测试平台设计 | 第27-32页 |
| 4 80C51 IP软核功能仿真测试 | 第32-60页 |
| ·工具介绍 | 第32-33页 |
| ·仿真工具ModelSim | 第32-33页 |
| ·综合工具Quartus Ⅱ | 第33页 |
| ·功能仿真 | 第33-60页 |
| ·分块测试 | 第33-47页 |
| ·整体测试 | 第47-60页 |
| 5 80C51 IP软核综合实现及应用 | 第60-81页 |
| ·逻辑综合 | 第60-69页 |
| ·综合的概念 | 第60-62页 |
| ·综合约束条件 | 第62-63页 |
| ·综合结果 | 第63-65页 |
| ·性能分析 | 第65-69页 |
| ·综合后仿真及功耗分析 | 第69-75页 |
| ·综合后仿真 | 第69-74页 |
| ·功耗分析 | 第74-75页 |
| ·FPGA实现 | 第75-78页 |
| ·应用系统设计 | 第78-81页 |
| 6 结论 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 附录 A | 第84-86页 |
| 附录 B | 第86-89页 |
| 附录 C | 第89-90页 |
| 附录 D | 第90-91页 |
| 附录 E | 第91-92页 |
| 作者简历 | 第92-94页 |
| 学位论文数据集 | 第94页 |
