电子功能模件边界扫描测试技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-15页 |
| ·课题来源 | 第11页 |
| ·课题的提出及其意义 | 第11-12页 |
| ·国内外研究状况 | 第12-14页 |
| ·本课题的主要研究工作 | 第14-15页 |
| 第2章 边界扫描技术基本理论及应用 | 第15-29页 |
| ·边界扫描技术概述 | 第15页 |
| ·边界扫描测试的基本原理 | 第15-16页 |
| ·边界扫描测试的结构 | 第16-24页 |
| ·测试存取端口（TAP) | 第18页 |
| ·指令寄存器 | 第18-19页 |
| ·边界扫描寄存器 | 第19-20页 |
| ·旁路寄存器 | 第20页 |
| ·器件标志寄存器 | 第20-21页 |
| ·TAP 控制器（TAP Controller） | 第21-24页 |
| ·边界扫描基本类型和方法 | 第24-26页 |
| ·边界扫描链的完备性测试 | 第24-25页 |
| ·器件功能测试 | 第25页 |
| ·器件间互连测试 | 第25-26页 |
| ·器件存在性测试 | 第26页 |
| ·边界扫描描述语言 | 第26-27页 |
| ·边界扫描描述语言简介 | 第26-27页 |
| ·边界扫描描述语言（BSDL）主要组成 | 第27页 |
| ·边界扫描描述语言（BSDL）文件 | 第27页 |
| ·本章小结 | 第27-29页 |
| 第3章 边界扫描测试生成算法研究 | 第29-42页 |
| ·边界扫描测试的基本概念及故障模型 | 第29-32页 |
| ·边界扫描测试的基本概念 | 第29-31页 |
| ·故障模型 | 第31-32页 |
| ·边界扫描板级测试的数学模型 | 第32-34页 |
| ·边界扫描测试的基本定理 | 第34-35页 |
| ·故障检测定理 | 第34页 |
| ·故障诊断的完备性定理 | 第34-35页 |
| ·边界扫描互连测试算法研究 | 第35-37页 |
| ·改良计数算法 | 第35-36页 |
| ·计数补偿算法 | 第36-37页 |
| ·移位“1”算法 | 第37页 |
| ·等权值抗误判算法 | 第37-39页 |
| ·改进等权值算法 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 边界扫描测试软件设计 | 第42-55页 |
| ·边界扫描测试软件组成 | 第42页 |
| ·软件功能与性能 | 第42-52页 |
| ·软件功能 | 第42页 |
| ·软件性能 | 第42-44页 |
| ·TAP 控制模块设计 | 第44-45页 |
| ·测试图形生成设计 | 第45-48页 |
| ·完整性测试设计 | 第48-49页 |
| ·旁路功能测试设计 | 第49页 |
| ·互连测试设计 | 第49-51页 |
| ·器件和电路板静态功能测试设计 | 第51页 |
| ·故障诊断设计 | 第51-52页 |
| ·辅助功能设计 | 第52页 |
| ·结果分析 | 第52-54页 |
| ·完整性测试结果分析 | 第52-53页 |
| ·互连测试结果分析 | 第53页 |
| ·器件功能测试结果分析 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 结论 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
