基于RTL行为模型的测试产生及时延测试方法
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 引言 | 第11-23页 |
| ·IC测试概述 | 第11-19页 |
| ·逻辑功能测试的测试产生问题 | 第12-16页 |
| ·时延测试 | 第16-19页 |
| ·本文的内容及章节安排 | 第19-23页 |
| 第二章 RTL行为描述与有限状态机 | 第23-37页 |
| ·RTL行为描述 | 第23-31页 |
| ·硬件描述语言 | 第24-25页 |
| ·RTL行为描述与同步时序电路 | 第25-27页 |
| ·有关RTL行为描述的若干定义 | 第27-29页 |
| ·基于RTL行为描述的测试产生 | 第29-31页 |
| ·有限状态机 | 第31-36页 |
| ·有限状态机的基本性质 | 第32-33页 |
| ·有限状态机的逻辑级描述 | 第33-35页 |
| ·有限状态机的RTL行为描述 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 电路的行为阶段 | 第37-45页 |
| ·阶段变量 | 第37-41页 |
| ·行为阶段转换函数 | 第41-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 行为阶段的聚类 | 第45-63页 |
| ·对电路状态聚类的动机 | 第45-48页 |
| ·基于RTL行为描述的状态聚类:行为阶段聚类 | 第48-61页 |
| ·一个对电路行为阶段聚类的例子 | 第48-50页 |
| ·行为阶段聚类的概念 | 第50-53页 |
| ·行为阶段聚类的方法 | 第53-60页 |
| ·行为阶段的聚类描述 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 第五章 基于聚类的RTL测试产生 | 第63-84页 |
| ·故障模型 | 第63-66页 |
| ·故障的模型化与测试产生 | 第63-65页 |
| ·行为阶段转换故障 | 第65-66页 |
| ·基于聚类的测试产生算法 | 第66-69页 |
| ·基于聚类的ATPG系统ATCLUB | 第69-83页 |
| ·数据结构 | 第69-76页 |
| ·RTL行为描述的结构分析 | 第69-74页 |
| ·行为阶段聚类的数据结构 | 第74-76页 |
| ·系统框架 | 第76-79页 |
| ·实验结果 | 第79-83页 |
| ·本章小结 | 第83-84页 |
| 第六章 时延测试的基本概念和方法 | 第84-103页 |
| ·门时延测试 | 第84-86页 |
| ·通路时延测试 | 第86-103页 |
| ·基本概念 | 第86-88页 |
| ·单通路时延故障分类及可测试性标准 | 第88-97页 |
| ·强键依赖集 | 第97-98页 |
| ·基本通路集 | 第98-102页 |
| ·通路时延测试总结 | 第102-103页 |
| 第七章 可变双观测点的时延测试 | 第103-121页 |
| ·可变观测点的时延测试思想 | 第103-105页 |
| ·可变双观测点的时延测试的理论基础 | 第105-112页 |
| ·物理通路图 | 第105-106页 |
| ·完全时延测试集 | 第106-110页 |
| ·寻找线性无关通路集 | 第110-112页 |
| ·可变双观测点的时延测试模型 | 第112-113页 |
| ·可变双观测点的时延测试产生的实验结果 | 第113-115页 |
| ·用基于测量的方法实现可变双观测点的时延测试 | 第115-119页 |
| ·单跳变敏化 | 第116-117页 |
| ·单跳变敏化的实验结果分析 | 第117-119页 |
| ·单跳变敏化用于可变双观测点时延测试的实验结果 | 第119页 |
| ·本章小结 | 第119-121页 |
| 第八章 基于测量的时延故障诊断 | 第121-132页 |
| ·时延模型和时延故障模型 | 第122-123页 |
| ·时延故障诊断方法 | 第123-130页 |
| ·逻辑通路图 | 第123-125页 |
| ·时延故障诊断方法 | 第125-127页 |
| ·时延故障诊断的实验结果分析 | 第127-130页 |
| ·本章小结 | 第130-132页 |
| 第九章 结论 | 第132-138页 |
| ·主要工作 | 第132-136页 |
| ·今后工作的设想 | 第136-138页 |
| 附录I 物理通路矩阵的秩 | 第138-144页 |
| 参考文献 | 第144-159页 |
| 致谢 | 第159-160页 |
| 作者简历 | 第160-161页 |
