基于响应相容及组频率编码的测试数据压缩研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 致谢 | 第8-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-20页 |
| ·背景与挑战 | 第13-14页 |
| ·研究背景 | 第13页 |
| ·测试面临的挑战 | 第13-14页 |
| ·系统芯片测试研究现状 | 第14-17页 |
| ·研究意义 | 第17-18页 |
| ·本文概况及章节安排 | 第18-20页 |
| 第二章 测试数据压缩方法 | 第20-31页 |
| ·系统芯片测试 | 第20-24页 |
| ·SoC测试基础 | 第20-21页 |
| ·测试架构 | 第21-22页 |
| ·SoC测试标准IEEE P1500 | 第22-23页 |
| ·测试数据压缩 | 第23-24页 |
| ·编码压缩方法简介 | 第24-28页 |
| ·LFSR重新播种方法简介 | 第28-29页 |
| ·测试激励压缩方法的工业应用 | 第29-31页 |
| 第三章 分组频率Golomb码测试数据压缩 | 第31-39页 |
| ·引言 | 第31页 |
| ·本方案的实现策略 | 第31-34页 |
| ·分组频率Golomb码 | 第31-33页 |
| ·无关位赋值策略 | 第33-34页 |
| ·整体综合过程 | 第34-35页 |
| ·硬件解压结构 | 第35-36页 |
| ·实验结果与分析 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 基于响应分块相容的测试数据压缩 | 第39-52页 |
| ·引言 | 第39-40页 |
| ·本方案的实现策略 | 第40-45页 |
| ·本方案的基本原理 | 第40-41页 |
| ·LFSR重新播种策略分析 | 第41-45页 |
| ·本方案的关键问题探讨 | 第45-47页 |
| ·分块策略分析 | 第46-47页 |
| ·向量选择策略 | 第47页 |
| ·整体综合过程 | 第47-48页 |
| ·硬件解压结构 | 第48-49页 |
| ·实验结果与分析 | 第49-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 结束语 | 第52-54页 |
| ·全文总结 | 第52-53页 |
| ·展望 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
