基于RAS结构的SOC测试方法的应用研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 致谢 | 第8-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-19页 |
| ·SOC测试综述 | 第13-15页 |
| ·集成电路测试产业简介 | 第13-14页 |
| ·VLSI的发展对测试技术的影响 | 第14-15页 |
| ·研究现状 | 第15-16页 |
| ·研究意义 | 第16-17页 |
| ·本文工作 | 第17页 |
| ·基于改进RAS架构的SOC测试方法 | 第17页 |
| ·基于数据相容压缩的RAS测试方法 | 第17页 |
| ·论文的组织结构 | 第17-19页 |
| 第二章 数字电路测试 | 第19-35页 |
| ·测试概述 | 第19-20页 |
| ·测试的分类 | 第20-21页 |
| ·故障模型 | 第21-22页 |
| ·故障模拟 | 第22-24页 |
| ·测试生成 | 第24-26页 |
| ·可测试性设计 | 第26-28页 |
| ·概述 | 第26-27页 |
| ·折衷 | 第27-28页 |
| ·扫描设计 | 第28-32页 |
| ·扫描设计概述 | 第28-29页 |
| ·扫描路径设计 | 第29-32页 |
| ·数据压缩 | 第32页 |
| ·内建自测试 | 第32-35页 |
| 第三章 基于改进RAS架构的SOC测试方法 | 第35-47页 |
| ·扫描单元设计 | 第35-38页 |
| ·基本的RAS结构 | 第35-36页 |
| ·本方案采用的扫描单元 | 第36-38页 |
| ·解码结构设计 | 第38-40页 |
| ·数据压缩 | 第40-43页 |
| ·测试激励产生 | 第41页 |
| ·测试向量排序 | 第41-43页 |
| ·实验结果和分析 | 第43-46页 |
| ·测试数据量和测试时间 | 第43-44页 |
| ·测试功耗 | 第44-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第四章 基于数据相容压缩的RAS测试方法 | 第47-54页 |
| ·扫描单元相容分组 | 第47-49页 |
| ·相容原理介绍 | 第47-48页 |
| ·扫描单元相容分组 | 第48-49页 |
| ·解压结构 | 第49-51页 |
| ·实验结果和分析 | 第51-53页 |
| ·测试数据量和测试时间 | 第51-52页 |
| ·测试功耗 | 第52-53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| 第五章 结束语 | 第54-56页 |
| ·本文工作总结 | 第54-55页 |
| ·进一步研究的设想 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第60页 |
