| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-20页 |
| ·引言 | 第13页 |
| ·SoC 测试的瓶颈 | 第13-14页 |
| ·SoC 测试的研究现状 | 第14-18页 |
| ·本文的内容安排 | 第18-20页 |
| 第二章 SoC测试相关理论 | 第20-37页 |
| ·SoC测试概述 | 第20-26页 |
| ·测试的预备工作 | 第20-21页 |
| ·单个内部节点测试方法 | 第21页 |
| ·SoC测试 | 第21-23页 |
| ·常见的 SoC核的测试方法 | 第23-25页 |
| ·SoC测试设备 | 第25-26页 |
| ·测试向量生成及压缩 | 第26-30页 |
| ·测试向量及其生成过程 | 第26-27页 |
| ·测试向量生成方法分类 | 第27页 |
| ·测试向量生成系统 | 第27-28页 |
| ·测试向量压缩 | 第28-30页 |
| ·可测试性设计 | 第30-33页 |
| ·内建自测试技术 | 第30-31页 |
| ·扫描测试技术 | 第31-32页 |
| ·可测试性设计规则 | 第32-33页 |
| ·SoC测试标准 | 第33-35页 |
| ·IEEE P1500 | 第33-34页 |
| ·IEEE 1149标准 | 第34-35页 |
| ·IEEE P1450 | 第35页 |
| ·SoC测试发展趋势及挑战 | 第35-37页 |
| ·TAM测试策略的研究 | 第35-36页 |
| ·新工艺对测试的影响 | 第36页 |
| ·测试设备 | 第36-37页 |
| 第三章 状态翻转连续长度码的测试数据压缩和解压方法 | 第37-48页 |
| ·概述 | 第37-38页 |
| ·预备知识 | 第38-42页 |
| ·状态翻转连续长度码 | 第42-43页 |
| ·编码实例 | 第43页 |
| ·算法描述 | 第43-44页 |
| ·解压结构 | 第44-46页 |
| ·实验结果 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 数据块前向相容标记码的测试数据压缩和解压方法 | 第48-56页 |
| ·概述 | 第48页 |
| ·预备知识 | 第48-50页 |
| ·相容压缩 | 第48-49页 |
| ·字典压缩 | 第49-50页 |
| ·数据块前向相容标记码 | 第50页 |
| ·编码实例 | 第50-51页 |
| ·算法描述 | 第51-52页 |
| ·解码器的设计 | 第52-54页 |
| ·实验结果 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 总结与展望 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-64页 |
| 研究生期间撰写的论文 | 第64-65页 |
| 研究生期间参与的科研项目和社会实践 | 第65页 |