| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-15页 |
| ·数字电路测试面临的挑战 | 第11-13页 |
| ·测试数据规模剧烈增加 | 第11-12页 |
| ·自动测试设备的局限性 | 第12页 |
| ·系统芯片的测试 | 第12-13页 |
| ·可测性设计及可制造性设计 | 第13页 |
| ·本文主要贡献 | 第13-14页 |
| ·文章的组织结构 | 第14-15页 |
| 第2章 数字电路测试基本理论及内建自测试技术介绍 | 第15-31页 |
| ·数字电路测试基础 | 第16-20页 |
| ·故障模型 | 第16-18页 |
| ·测试生成 | 第18-19页 |
| ·响应分析 | 第19-20页 |
| ·可测性设计 | 第20-22页 |
| ·内建自测试 | 第22-28页 |
| ·实施过程 | 第22-23页 |
| ·硬件实现 | 第23-24页 |
| ·各个组成部分 | 第24-25页 |
| ·测试矢量生成方法 | 第25-28页 |
| ·测试矢量压缩技术 | 第28-30页 |
| ·基于编码的方案 | 第29页 |
| ·基于线性解压器的方案 | 第29页 |
| ·基于扫描树技术的方案 | 第29-30页 |
| ·小结 | 第30-31页 |
| 第3章 由被测电路自己施加测试矢量的BIST 方法原理 | 第31-41页 |
| ·CSTP 介绍 | 第31-32页 |
| ·MinTest 测试集 | 第32-34页 |
| ·TPAC 的简单例子及基本策略 | 第34-37页 |
| ·TPAC 的数学描述 | 第37-39页 |
| ·小结 | 第39-41页 |
| 第4章 由被测电路自己施加测试矢量的BIST方法的实现 | 第41-59页 |
| ·算法介绍和实现 | 第41-47页 |
| ·用图论的方法求最长的有向公共路径 | 第41-43页 |
| ·近似求解算法 | 第43-46页 |
| ·后续处理过程 | 第46-47页 |
| ·模拟实验过程和结果分析 | 第47-58页 |
| ·HOPE 软件介绍 | 第48-50页 |
| ·分组完全反馈 | 第50-51页 |
| ·一般反馈方式 | 第51-58页 |
| ·小结 | 第58-59页 |
| 第5章 今后的研究方向 | 第59-61页 |
| ·测试集中的无关位 | 第59-60页 |
| ·算法的改进和新算法的研究 | 第60页 |
| ·时序电路中的应用 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 附录A 攻读硕士期间发表的论文 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68页 |