基于SoC的测试数据压缩技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| ·选题的目的和意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·国外研究现状 | 第11-13页 |
| ·国内研究现状 | 第13页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第13-14页 |
| ·论文的结构 | 第14-15页 |
| 第2章 SoC测试相关理论研究 | 第15-27页 |
| ·测试基础 | 第15-17页 |
| ·测试的基本概念 | 第15页 |
| ·故障模型 | 第15-16页 |
| ·自动测试向量生成 | 第16-17页 |
| ·SoC测试结构 | 第17-20页 |
| ·引入SoC基本概念 | 第17-18页 |
| ·概念性的SoC测试结构 | 第18-20页 |
| ·IP核的分类及测试方法 | 第20-24页 |
| ·IP核简介 | 第20-21页 |
| ·IP核测试方法 | 第21-24页 |
| ·SoC测试发展趋势及挑战 | 第24-26页 |
| ·超深亚微米工艺对测试的影响 | 第24-25页 |
| ·可重构的测试与基于平台的SoC | 第25页 |
| ·测试设备 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 SoC测试数据压缩技术研究 | 第27-43页 |
| ·测试数据压缩概述 | 第27-31页 |
| ·基本要求 | 第28-29页 |
| ·熵(entropy)理论与测试数据压缩 | 第29-31页 |
| ·几种主要的SoC测试数据压缩技术 | 第31-42页 |
| ·存储与生成压缩技术 | 第31-35页 |
| ·测试集紧缩技术 | 第35-36页 |
| ·基于编码的测试数据压缩技术 | 第36-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 基于无关位预处理的改进FDR码压缩方法 | 第43-58页 |
| ·编码原理及方案 | 第43-46页 |
| ·无关位预处理 | 第46-47页 |
| ·编码算法描述 | 第47-49页 |
| ·解码器设计 | 第49-52页 |
| ·压缩效率分析 | 第52-54页 |
| ·测试功耗分析 | 第54-55页 |
| ·实验结果与分析 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 基于预处理的状态翻转连续长度码压缩方法 | 第58-67页 |
| ·状态翻转连续长度码 | 第58-62页 |
| ·编码方法综述 | 第58-59页 |
| ·编码实例 | 第59-60页 |
| ·编码算法描述 | 第60页 |
| ·解压结构 | 第60-62页 |
| ·预处理方面的改进 | 第62-64页 |
| ·理论分析 | 第62-63页 |
| ·测试向量排序算法 | 第63-64页 |
| ·编码压缩过程 | 第64-65页 |
| ·解压过程 | 第65页 |
| ·实验结果 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
