基于两级扫描结构路径延迟故障的低功耗测试

摘要	第1-4页
Abstract	第4-7页
第1章 引言	第7-13页
·研究背景和意义	第7-8页
·低功耗测试技术	第8-11页
·论文的工作内容	第11页
·论文的组织结构	第11-13页
第2章 基于路径延迟故障的扫描测试方法	第13-26页
·集成电路测试概述	第13-18页
·扫描测试	第18-22页
·路径延迟测试	第22-25页
·小结	第25-26页
第3章 改进的两级扫描测试结构	第26-39页
·背景技术简介	第26-28页
·改进的两级扫描测试结构	第28-31页
·三态缓冲器	第31-32页
·改进的两级扫描结构的构造方法	第32-38页
·小结	第38-39页
第4章 异或网络中的故障屏蔽	第39-47页
·异或网络与故障屏蔽	第39-41页
·故障屏蔽效应的消除	第41-44页
·改进的两级扫描结构故障屏蔽的消除	第44-46页
·小结	第46-47页
第5章 实验结果与分析	第47-52页
·测试成本的估算	第47-48页
·实验结果和分析	第48-51页
·小结	第51-52页
第6章 结论	第52-54页
·研究总结	第52-53页
·需进一步开展的工作	第53-54页
参考文献	第54-57页
致谢	第57-58页
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果	第58页