| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| ·课题的背景 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状分析 | 第11-13页 |
| ·边界扫描技术标准的发展现状 | 第11-12页 |
| ·边界扫描技术的应用现状 | 第12-13页 |
| ·课题的来源和意义 | 第13-14页 |
| ·主要研究内容 | 第14-15页 |
| 第2章 边界扫描板级测试技术的研究 | 第15-39页 |
| ·边界扫描测试原理剖析 | 第15-25页 |
| ·边界扫描测试的物理基础 | 第15-19页 |
| ·边界扫描测试指令分析 | 第19-20页 |
| ·边界扫描测试相关标准 | 第20-23页 |
| ·边界扫描测试流程解析 | 第23-25页 |
| ·板级数字电路的故障及其模型 | 第25-28页 |
| ·边界扫描测试基本概念 | 第25-26页 |
| ·电路板故障及模型 | 第26-27页 |
| ·边界扫描测试数学模型 | 第27-28页 |
| ·边界扫描技术板级测试的研究 | 第28-37页 |
| ·扫描链路完备性测试 | 第29-30页 |
| ·板级互连测试 | 第30-34页 |
| ·板级簇测试 | 第34-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第3章 基于SOPC边界扫描测试平台的设计与实现 | 第39-55页 |
| ·测试平台总体设计方案 | 第39-41页 |
| ·边界扫描控制器的设计思想 | 第41-42页 |
| ·边界扫描控制器SOPC系统设计 | 第42-48页 |
| ·SOPC硬件系统的构建 | 第42-45页 |
| ·Quartus工程中的SOPC系统集成 | 第45页 |
| ·SOPC系统的软件开发 | 第45-48页 |
| ·Avalon从外设USB开发 | 第48-54页 |
| ·Avalon总线特点 | 第48-49页 |
| ·USB接口组件的定义 | 第49-52页 |
| ·USB的NIOS固件开发 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第4章 IEEE1149.1 测试总线控制器IP核设计 | 第55-68页 |
| ·可复用IP核设计思想 | 第55-56页 |
| ·IP核总体设计 | 第56-59页 |
| ·IP核功能需求 | 第56-57页 |
| ·IP核体系结构设计 | 第57-59页 |
| ·IP核各功能模块设计 | 第59-67页 |
| ·处理器接口模块 | 第59-60页 |
| ·命令控制单元模块 | 第60-61页 |
| ·TMS生成模块 | 第61-62页 |
| ·TCK生成模块 | 第62页 |
| ·TDO与TDI生成模块 | 第62-67页 |
| ·IP核验证 | 第67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第5章 边界扫描测试的板级应用 | 第68-79页 |
| ·可测性设计 | 第68-69页 |
| ·边界扫描Demo板设计 | 第69-70页 |
| ·测试系统的在线调试 | 第70-75页 |
| ·模块功能调试 | 第70-74页 |
| ·系统联调 | 第74-75页 |
| ·测试系统的工作过程 | 第75-78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 结论 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 附录 | 第84-85页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第85-87页 |
| 致谢 | 第87页 |