模拟电子模件的测试系统开发
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-15页 |
| ·课题背景和意义 | 第8页 |
| ·测试技术发展动态 | 第8-14页 |
| ·国外测试技术的研究和应用 | 第8-11页 |
| ·国内测试技术的研究和应用 | 第11-12页 |
| ·PCB 测试方法综述 | 第12-14页 |
| ·课题来源和目标 | 第14-15页 |
| 第2章 系统工作原理 | 第15-27页 |
| ·线性阻抗器件的基本测试方法 | 第15-22页 |
| ·电阻的三线测试法 | 第15-18页 |
| ·电阻的六线测试法 | 第18-20页 |
| ·电容和电感的测试 | 第20-22页 |
| ·非线性及有源器件的测试原理 | 第22-26页 |
| ·二极管的测试 | 第22-23页 |
| ·三极管的测试 | 第23-25页 |
| ·运算放大器的测试 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 测试系统主要设备的开发 | 第27-45页 |
| ·自动测试系统设计方案 | 第27-30页 |
| ·总体结构 | 第27-29页 |
| ·路内测试仪 | 第29页 |
| ·多路通道扫描器 | 第29-30页 |
| ·通信和测试模块的开发 | 第30-39页 |
| ·通信和测试模块的结构图 | 第30-31页 |
| ·通信和测试试模块的主要芯片 | 第31-32页 |
| ·USB 通信功能的实现 | 第32-34页 |
| ·I~2C 通信原理及其实现 | 第34-37页 |
| ·A/D 和D/A 功能的实现 | 第37-38页 |
| ·单片机的固件开发 | 第38-39页 |
| ·测试电路调理模块的设计 | 第39-44页 |
| ·测试电路调理模块的结构图 | 第40-41页 |
| ·测试电路调理模块的芯片 | 第41-42页 |
| ·I~2C 通信的实现 | 第42页 |
| ·PIC16F73 的固件开发 | 第42-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 虚拟仪器及系统软件开发 | 第45-58页 |
| ·可程控通用仪器的虚拟仪器控制方法 | 第45-53页 |
| ·虚拟仪器技术基本概念 | 第45-48页 |
| ·示波器控制软件开发 | 第48-51页 |
| ·任意函数发生器控制软件开发 | 第51-53页 |
| ·PCB 路内测试软件的开发 | 第53-57页 |
| ·软件的功能与结构 | 第53-54页 |
| ·测试信息的管理 | 第54-55页 |
| ·测试方案的选取与执行 | 第55-56页 |
| ·测试进程控制 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 测试系统的调试和应用 | 第58-73页 |
| ·测试精度影响因素分析 | 第58-64页 |
| ·运放工作特性 | 第58-59页 |
| ·激励信号影响因素 | 第59-63页 |
| ·继电器开关 | 第63-64页 |
| ·电阻的测试 | 第64-68页 |
| ·电容的测试 | 第68-70页 |
| ·实板测试应用 | 第70-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 结论 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-77页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
