| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-17页 |
| ·功率半导体器件的发展简介 | 第7-11页 |
| ·MOSFET 器件的技术简介 | 第11-15页 |
| ·本文研究的意义 | 第15-17页 |
| 第二章 功率器件散热失效研究 | 第17-23页 |
| ·器件散热能力对于器件能力的影响 | 第17-18页 |
| ·MOSFET 功率器件的工作原理及发热机制 | 第18-20页 |
| ·热阻定义 | 第20-23页 |
| 第三章 热阻的测试原理 | 第23-26页 |
| ·热阻的基本测试方法 | 第23-24页 |
| ·结温的校验测试 | 第24-26页 |
| 第四章 R_(thja) 与R_(thjc) 的测试 | 第26-30页 |
| ·R_(thja) 的测试 | 第26-28页 |
| ·R_(thjc) 的测试 | 第28-30页 |
| 第五章 热阻测试的研究 | 第30-37页 |
| ·热阻测试与方波信号的关系研究 | 第30-32页 |
| ·R_(thja) 热阻测试与空气风速的关系研究 | 第32-34页 |
| ·R_(thjc) 热阻与芯片尺寸的关系研究 | 第34-37页 |
| 第六章 结论 | 第37-39页 |
| 参考文献 | 第39-41页 |
| 攻读硕士学位期间公开发表的论文 | 第41-42页 |
| 致谢 | 第42-43页 |