首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--测试和检验论文

基于JTAG标准的SoC调试研究与实现

摘要第1-6页
Abstract第6-10页
第1章 绪论第10-14页
   ·论文研究背景第10-11页
   ·研究的目的意义第11-12页
   ·论文主要工作第12页
   ·论文组织结构第12-14页
第2章 JTAG标准第14-20页
   ·边界扫描技术第14-16页
     ·边界扫描结构第14-15页
     ·边界扫描在SoC调试中的应用第15-16页
   ·JTAG基本结构第16-19页
     ·JTAG寄存器第16-18页
     ·JTAG指令第18页
     ·JTAG的TAP控制器第18-19页
   ·本章小结第19-20页
第3章 SoC调试技术第20-24页
   ·软件仿真调试第20-21页
   ·存储器监控调试第21-22页
   ·硬件仿真调试第22页
   ·SoC调试技术的发展趋势第22-23页
   ·本章小结第23-24页
第4章 基于JTAG的多核SoC调试研究第24-36页
   ·多核SoC调试分析第24-25页
   ·基于JTAG的多核SoC调试第25-28页
     ·T链互连调试第25-26页
     ·多TAP控制器互连调试第26-27页
     ·并行多TAP控制器互连调试第27-28页
   ·优化的全兼容多核SoC调试第28-35页
     ·全兼容多核调试要求第29-30页
     ·优化的多核调试结构第30-32页
     ·优化的多核调试模式第32-33页
     ·Two-pass多核调试策略第33-35页
   ·本章小结第35-36页
第5章 基于JTAG的SoC调试实现第36-61页
   ·SoC调试系统的JTAG改进第37-43页
     ·扩展寄存器第37-39页
     ·扩展访问宏命令第39-41页
     ·扩展调试指令第41-42页
     ·扩展程序烧录指令第42-43页
   ·SoC调试实现第43-54页
     ·调试模式切换第44页
     ·时钟与复位调试第44-45页
     ·RAM与特殊寄存器访问第45-48页
     ·CPU在线调试第48-54页
   ·程序存储器在线编程第54-60页
     ·程序存储器的擦写第56-58页
     ·程序存储器的读取第58-60页
     ·程序烧录数据的验证第60页
   ·本章小结第60-61页
第6章 SoC调试系统功能测试与性能分析第61-68页
   ·SoC调试的硬件连接第61-63页
     ·增强型并行端口第61-62页
     ·JTAG驱动板第62-63页
   ·SoC调试系统功能测试第63-66页
     ·测试环境第63页
     ·测试软件第63-64页
     ·测试内容与方法第64-65页
     ·测试结果第65-66页
   ·SoC调试系统性能分析第66-67页
     ·性能分析指标第66页
     ·性能分析结论第66-67页
   ·本章小结第67-68页
结论第68-70页
参考文献第70-74页
攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果第74-75页
致谢第75页

论文共75页,点击 下载论文
上一篇:基于阀控入口特性的蓄能器理论与实验研究
下一篇:广州移动越秀分公司营销战略研究