混合集成电路测试板FPGA逻辑设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| ·集成电路测试仪的研制意义 | 第9-10页 |
| ·集成电路测试的历史及发展趋势 | 第10-12页 |
| ·项目来源及研究内容 | 第12-14页 |
| 第二章 混合集成电路测试相关方法 | 第14-25页 |
| ·集成电路测试原理 | 第14-15页 |
| ·混合信号测试原理 | 第15-25页 |
| ·直流参数测试原理 | 第16-19页 |
| ·交流参数测试原理 | 第19-20页 |
| ·功能测试原理 | 第20-25页 |
| 第三章 混合集成电路测试仪系统设计 | 第25-47页 |
| ·混合集成电路测试仪组成结构 | 第25-33页 |
| ·测试仪的系统控制器 | 第25-27页 |
| ·混合集成电路测试板 | 第27-28页 |
| ·测试板与计算机之间通信方式设计 | 第28-32页 |
| ·FPGA 与 ARM 的通信总线设计 | 第32-33页 |
| ·混合集成电路测试板硬件设计 | 第33-47页 |
| ·数字测试的激励源与测试单元设计 | 第34-36页 |
| ·模拟测试的激励源与测试单元设计 | 第36-41页 |
| ·测试板的电子管脚设计 | 第41-43页 |
| ·测试板的 FPGA 外围电路设计 | 第43-47页 |
| 第四章 混合集成电路测试板逻辑设计 | 第47-71页 |
| ·混合测试的 FPGA 整体设计 | 第47-48页 |
| ·功能测试的 FPGA 逻辑设计 | 第48-62页 |
| ·功能测试的 FPGA 逻辑设计任务 | 第48-49页 |
| ·功能测试 FPGA 逻辑设计的实现 | 第49-50页 |
| ·数字时钟管理模块的设计 | 第50-52页 |
| ·系统复位模块的设计 | 第52页 |
| ·通信模块的设计 | 第52-54页 |
| ·控制模拟测试模块的设计 | 第54-55页 |
| ·SRAM 读写模拟的设计 | 第55-58页 |
| ·功能测试控制模块的设计 | 第58-62页 |
| ·模拟信号测试 FPGA 逻辑设计 | 第62-69页 |
| ·模拟测试控制单元逻辑设计 | 第62-63页 |
| ·模数转换器的逻辑设计 | 第63-66页 |
| ·数模转换器的逻辑设计 | 第66-67页 |
| ·模拟信号的同步采样的逻辑设计 | 第67-69页 |
| ·实现混合测试的 FPGA 逻辑设计 | 第69-71页 |
| 第五章 混合集成电路测试板的实际应用 | 第71-79页 |
| ·DUT 测试板介绍 | 第71-72页 |
| ·测试芯片概述 | 第72-74页 |
| ·测试仪软件参数设置 | 第74-77页 |
| ·测试结果分析 | 第77-79页 |
| 第六章 总结与展望 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-83页 |
| 攻读硕士期间取得的成果 | 第83-84页 |
