| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| ·IC 测试产业介绍与发展现状 | 第9-10页 |
| ·本课题的意义 | 第10-11页 |
| ·论文的研究内容 | 第11-12页 |
| 第二章 IC 测试系统的架构设计 | 第12-17页 |
| ·IC 测试分类 | 第12-13页 |
| ·逻辑功能测试 | 第12页 |
| ·参数测试 | 第12-13页 |
| ·IC 测试系统的硬件架构 | 第13-14页 |
| ·FPGA 平台 | 第14-15页 |
| ·电源模块 | 第15-16页 |
| ·本章总结 | 第16-17页 |
| 第三章 时间参数测量单元的设计 | 第17-47页 |
| ·面向 IC 测试系统的时间测量单元指标分析 | 第17-18页 |
| ·时间测量方法研究 | 第18-23页 |
| ·计数式时间测量法 | 第18-19页 |
| ·多路时钟内插法 | 第19-20页 |
| ·抽头延时链法 | 第20-22页 |
| ·专用的时间测量芯片 | 第22页 |
| ·测量方法评述 | 第22-23页 |
| ·基于 DCM 四路时钟的时间数字转换电路 | 第23-34页 |
| ·DCM 介绍 | 第23-25页 |
| ·时间数字转换电路设计方案 | 第25-29页 |
| ·亚稳态及 Start/Stop 信号的同步化模块 | 第29-31页 |
| ·上升沿/下降沿与时间延迟测量 | 第31-33页 |
| ·周期与脉宽测量 | 第33-34页 |
| ·时间测量单元的高速高精度硬件电路设计 | 第34-41页 |
| ·时间测量单元的硬件架构 | 第34-36页 |
| ·继电器选择 | 第36-37页 |
| ·比较器模块 | 第37-39页 |
| ·阈值产生模块 | 第39-41页 |
| ·实验数据与分析 | 第41-46页 |
| ·时间数字转换模块数据分析 | 第42-45页 |
| ·周期输入信号计数法测量 | 第45-46页 |
| ·本章总结 | 第46-47页 |
| 第四章 直流参数测量单元的设计 | 第47-70页 |
| ·面向 IC 测试系统的直流参数测量单元指标分析 | 第47页 |
| ·直流参数测量单元的测量方法研究 | 第47-55页 |
| ·直流参数测量分类 | 第48页 |
| ·加电压测量电流与加电流测量电压 | 第48-50页 |
| ·OCL 电路分析 | 第50-53页 |
| ·开尔文连接法 | 第53-55页 |
| ·低电压直流参数测量单元设计 | 第55-59页 |
| ·硬件电路设计 | 第55-57页 |
| ·固态继电器与模拟开关 | 第57-59页 |
| ·高电压直流参数测量单元的设计 | 第59-66页 |
| ·硬件电路设计 | 第60-63页 |
| ·隔离电压的数字逻辑的输出 | 第63-65页 |
| ·过压过流保护 | 第65-66页 |
| ·实验数据与分析 | 第66-69页 |
| ·OCL 电路输出与限流保护 | 第66-67页 |
| ·低压通道测量数据与分析 | 第67-68页 |
| ·高压通道测量数据与分析 | 第68-69页 |
| ·本章总结 | 第69-70页 |
| 第五章 结论与展望 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |
| 攻读硕士期间取得的成果 | 第74-75页 |