边界扫描测试结果可视化方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 致谢 | 第8-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-21页 |
| ·研究背景 | 第12-14页 |
| ·边界扫描测试 | 第12-13页 |
| ·信息可视化 | 第13-14页 |
| ·研究背景 | 第14-16页 |
| ·国内外研究概况 | 第16-18页 |
| ·平面性问题 | 第16-17页 |
| ·自动布线算法 | 第17-18页 |
| ·研究内容与组织结构 | 第18-21页 |
| ·研究内容 | 第18-19页 |
| ·组织结构 | 第19-21页 |
| 第二章 电路板上器件的可视化选取 | 第21-27页 |
| ·信息采集 | 第21-23页 |
| ·电路板电子图片获得 | 第21-22页 |
| ·信息预处理 | 第22-23页 |
| ·映射关系 | 第23-26页 |
| ·实物图与 PCB 位置映射 | 第23页 |
| ·屏幕坐标到图片像素点映射 | 第23-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 基于 DMP 算法的故障图平面化 | 第27-35页 |
| ·DMP 算法及其分析 | 第27-29页 |
| ·预处理 | 第27页 |
| ·DMP 算法过程 | 第27-29页 |
| ·DMP 算法的局限性 | 第29页 |
| ·故障图问题描述 | 第29-30页 |
| ·故障图特点 | 第29-30页 |
| ·故障器件和管脚处理 | 第30页 |
| ·DMP 优化算法 | 第30-34页 |
| ·若干原则 | 第30-31页 |
| ·改进的 DMP 算法 | 第31-33页 |
| ·算法复杂度分析 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 基于点阵的线探索布线算法 | 第35-48页 |
| ·扫描线算法的回顾 | 第35-38页 |
| ·扫描线算法过程 | 第35-37页 |
| ·两条线段求交算法 | 第37-38页 |
| ·绕障碍布线算法 | 第38-41页 |
| ·迷宫寻路算法 | 第38-39页 |
| ·线探索寻路算法 | 第39-41页 |
| ·布线点阵生成 | 第41-42页 |
| ·线探索优化算法 | 第42-47页 |
| ·布线点阵生成算法 | 第42-44页 |
| ·线探索优化算法 | 第44-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 边界扫描测试结果可视化展示应用 | 第48-54页 |
| ·应用背景 | 第48页 |
| ·系统框架 | 第48-50页 |
| ·原型系统实现与运行实例 | 第50-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第六章 总结与展望 | 第54-56页 |
| ·全文总结 | 第54-55页 |
| ·工作展望 | 第55-56页 |
| 硕士研究生在读期间完成的论文 | 第56页 |
| 硕士研究生在读期间参加的科研工作 | 第56页 |
| 硕士研究生在读期间获得奖励 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-62页 |
