测试向量的周期化算法研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 绪论 | 第7-10页 |
| 第一章 理论基础 | 第10-15页 |
| ·数字集成电路测试的目的和过程 | 第10-11页 |
| ·ATE简介 | 第11-13页 |
| ·硬件结构 | 第11-12页 |
| ·软件环境 | 第12-13页 |
| ·ATE的工作原理 | 第13页 |
| ·本章小结 | 第13-15页 |
| 第二章 文件标准分析 | 第15-30页 |
| ·VCD文件分析 | 第15-17页 |
| ·VCD格式背景 | 第15页 |
| ·VCD文件的基本结构 | 第15-17页 |
| ·WGL格式 | 第17-23页 |
| ·WGL格式背景 | 第17页 |
| ·WGL格式结构 | 第17-23页 |
| ·STIL格式 | 第23-28页 |
| ·STIL标准的背景 | 第23-24页 |
| ·STIL文件结构 | 第24-28页 |
| ·本章小结 | 第28-30页 |
| 第三章 周期化分析 | 第30-40页 |
| ·周期化转换的手动实现 | 第30-33页 |
| ·周期化过程分析 | 第33-37页 |
| ·周期化算法分析 | 第37-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 周期化算法的编程实现 | 第40-48页 |
| ·编程语言与工具介绍 | 第40-43页 |
| ·软件环境介绍 | 第40-43页 |
| ·编程语言的选择 | 第43页 |
| ·软件的基本工作原理 | 第43-47页 |
| ·信息的读取 | 第43-44页 |
| ·信息的处理 | 第44-45页 |
| ·格式生成 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 结论 | 第48-50页 |
| 1 主要完成的工作 | 第48页 |
| 2 今后的研究任务 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-52页 |
| 附录 | 第52-53页 |
| 申请学位期间的研究成果及发表的学术论文 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54页 |
