密码芯片安全扫描结构与安全扫描方法

致谢	第1-5页
摘要	第5-6页
Abstract	第6-7页
目录	第7-9页
1. 绪论	第9-15页
·课题研究背景和意义	第9-12页
·信息安全与密码芯片	第9-10页
·可测性设计与扫描链	第10-11页
·密码芯片的可测性与安全性	第11-12页
·国内外研究现状	第12-13页
·密码芯片扫描链旁路攻击研究现状	第12-13页
·密码芯片安全扫描结构研究现状	第13页
·本文内容及组织	第13-15页
2. 基于扫描链的旁路攻击方法	第15-33页
·对称分组密码芯片扫描链旁路攻击	第16-25页
·DES密码芯片的扫描链旁路攻击	第17-21页
·AES密码芯片的扫描链旁路攻击	第21-25页
·公钥密码芯片扫描链旁路攻击	第25-30页
·测试压缩技术对扫描链旁路攻击的影响	第30-31页
·本章小结	第31-33页
3. 安全扫描结构	第33-40页
·现有的安全扫描结构综述	第33-35页
·对鲁棒安全扫描链的复位攻击	第35-37页
·前馈异或安全扫描结构	第37-38页
·本章小结	第38-40页
4. 安全扫描结构的自动测试图形生成	第40-49页
·FXS扫描链测试图形自动生成算法	第40-43页
·实验结果	第43-47页
·本章小结	第47-49页
5. 总结和展望	第49-51页
·本文总结	第49页
·未来研究方向展望	第49-51页
参考文献	第51-55页
作者简介	第55页