可编程逻辑器件测试系统
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题背景及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究动态 | 第11-16页 |
| ·主要工作及内容安排 | 第16-17页 |
| 第2章 测试系统总体方案设计 | 第17-20页 |
| ·测试系统的总体结构概述 | 第17页 |
| ·测试的基本原理 | 第17-18页 |
| ·通信接口及上位机软件选择 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 第3章 系统硬件设计 | 第20-32页 |
| ·IspLsi1032测试板主控部分设计 | 第20-27页 |
| ·IspLsi1032测试板被测部分设计 | 第27-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第4章 系统软件设计 | 第32-42页 |
| ·可编程逻辑器件设计语言 | 第32-34页 |
| ·可编程逻辑器件逻辑功能设计 | 第34-39页 |
| ·上位机软件设计 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第5章 IspLsi1032E测试系统的实现 | 第42-62页 |
| ·复杂的可编程逻辑器件CPLD | 第42-46页 |
| ·CPLD器件IspLsi1032E | 第46-52页 |
| ·测试内容及基本流程 | 第52-53页 |
| ·测试步骤及算法分析 | 第53-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第6章 结论与展望 | 第62-64页 |
| ·工作结论 | 第62-63页 |
| ·工作展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 个人简介 | 第68-69页 |
| 附录 | 第69-73页 |
| 附录1 IspLsi1032E测试板部分原理图 | 第69-72页 |
| 附录2 IspLsi1032E测试板 | 第72-73页 |
