| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-23页 |
| ·集成电路测试的历史 | 第16-17页 |
| ·集成电路测试的发展趋势 | 第17-18页 |
| ·课题研究的国内外现状 | 第18-21页 |
| ·课题的来源和意义 | 第21页 |
| ·论文的结构 | 第21-23页 |
| 第二章 闪存和闪存卡的结构和测试 | 第23-43页 |
| ·闪存的类型和应用 | 第23-32页 |
| ·NOR 闪存介绍 | 第23-25页 |
| ·NAND 闪存介绍 | 第25-28页 |
| ·NOR 闪存和 NAND 闪存比较 | 第28-30页 |
| ·闪存单元工作原理和操作 | 第30-32页 |
| ·闪存卡的类型和应用 | 第32-36页 |
| ·闪存的测试流程 | 第36-38页 |
| ·NAND 闪存卡的测试流程 | 第38-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第三章 NAND 闪存卡低成本测试方案设计 | 第43-50页 |
| ·NAND 闪存卡低成本测试方案流程 | 第43-45页 |
| ·NAND 闪存卡低成本测试方案设计思路和测试系统架构设计 | 第45-49页 |
| ·设计思路 | 第45-47页 |
| ·测试系统架构设计 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 NAND 闪存卡低成本测试方案开发和实现 | 第50-81页 |
| ·NAND 闪存卡低成本测试方案硬件开发和实现 | 第50-72页 |
| ·硬件选择 | 第50-55页 |
| ·硬件开发和实现 | 第55-64页 |
| ·低成本 NAND 闪存卡测试机硬件结构 | 第64-71页 |
| ·低成本 NAND 闪存卡测试机硬件成本核算 | 第71-72页 |
| ·NAND 闪存卡低成本测试方案软件开发和实现 | 第72-80页 |
| ·测试程序开发 | 第72-77页 |
| ·测试程序优化 | 第77-80页 |
| ·本章小结 | 第80-81页 |
| 第五章 NAND 闪存卡低成本测试方案在量产中分析 | 第81-102页 |
| ·NAND 闪存卡低成本测试方案在量产中的问题描述和解决办法 | 第81-94页 |
| ·测试系统不稳定问题描述和解决办法 | 第81-89页 |
| ·测试时间比正常测试时间长问题描述和解决办法 | 第89-92页 |
| ·部分产品测试良率不合格问题描述和解决办法 | 第92-94页 |
| ·测试结果分析 | 第94-98页 |
| ·低成本 NAND 闪存卡测试机和其他 NAND 闪存卡测试机成本比较 | 第98-101页 |
| ·本章小结 | 第101-102页 |
| 第六章 总结和展望 | 第102-104页 |
| ·总结 | 第102-103页 |
| ·展望 | 第103-104页 |
| 参考文献 | 第104-107页 |
| 致谢 | 第107-108页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第108页 |
