数字系统时延故障的低成本高质量测试方法研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第1章 引言 | 第9-29页 |
| ·研究背景 | 第9-10页 |
| ·时延故障的研究基础 | 第10-17页 |
| ·基本概念 | 第10-13页 |
| ·时延故障模型 | 第13-14页 |
| ·时延故障测试方法 | 第14-17页 |
| ·时延故障的问题及研究现状 | 第17-26页 |
| ·测试功耗 | 第17-22页 |
| ·测试数据量 | 第22-25页 |
| ·测试覆盖率 | 第25-26页 |
| ·本文研究重点和工作内容 | 第26-29页 |
| 第2章 最小冲突的多周期捕获方法 | 第29-51页 |
| ·相关低功耗方法介绍 | 第30-31页 |
| ·问题描述与思路 | 第31-34页 |
| ·模型及求解 | 第34-40页 |
| ·NVP | 第34-37页 |
| ·MVP | 第37页 |
| ·增量MIP求解器 | 第37-39页 |
| ·随机舍入求解方法 | 第39-40页 |
| ·测试方案 | 第40-44页 |
| ·基于NVP的测试方案 | 第40-41页 |
| ·基于MVP的测试方案 | 第41-42页 |
| ·多周期捕获测试方案 | 第42-44页 |
| ·方法扩展 | 第44-45页 |
| ·实验效果 | 第45-50页 |
| ·捕获冲突和测试数据量 | 第46页 |
| ·混合整数规划和随机舍入法 | 第46-47页 |
| ·NVP效果 | 第47页 |
| ·MVP效果 | 第47页 |
| ·MVP和NVP比较 | 第47-49页 |
| ·与其他DFT方法比较 | 第49页 |
| ·扩展MVP效果 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第3章 无覆盖率损失的测试划分方法 | 第51-64页 |
| ·背景及相关技术 | 第51-54页 |
| ·新的测试方法 | 第54-61页 |
| ·整体思路 | 第55-57页 |
| ·测试过程 | 第57-58页 |
| ·触发器分组 | 第58-61页 |
| ·实验结果 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第4章 面向压缩的低功耗X位填充方法 | 第64-77页 |
| ·相关背景和技术 | 第64-67页 |
| ·线性解码压缩器 | 第64-66页 |
| ·相关技术 | 第66-67页 |
| ·整体解决方案 | 第67-69页 |
| ·构建虚拟电路和降低功耗 | 第69-74页 |
| ·线性关系抽取 | 第70-71页 |
| ·虚拟电路构建 | 第71-72页 |
| ·低功耗策略 | 第72-74页 |
| ·模型的预测功能 | 第74页 |
| ·实验结果 | 第74-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 第5章 时延故障的数据压缩方法 | 第77-98页 |
| ·相关技术分析 | 第78-79页 |
| ·新的测试码产生过程 | 第79-80页 |
| ·触发器划分 | 第80-89页 |
| ·测试向量压缩 | 第81-84页 |
| ·测试响应压缩 | 第84-88页 |
| ·分组调整策略 | 第88-89页 |
| ·新的测试方案 | 第89-92页 |
| ·实验结果 | 第92-97页 |
| ·本章小结 | 第97-98页 |
| 第6章 冲突驱动的时延故障高覆盖率方法 | 第98-116页 |
| ·相关工作介绍和分析 | 第98-102页 |
| ·新的扫描结构设计 | 第102-105页 |
| ·选择并划分触发器 | 第105-112页 |
| ·选择触发器 | 第105-107页 |
| ·分配触发器 | 第107-111页 |
| ·方法扩展 | 第111-112页 |
| ·实验结果 | 第112-115页 |
| ·本章小结 | 第115-116页 |
| 第7章 结论 | 第116-119页 |
| ·本文主要贡献 | 第116-118页 |
| ·未来展望 | 第118-119页 |
| 参考文献 | 第119-129页 |
| 致谢 | 第129-131页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第131-132页 |
