面向模拟IC测试的高精度数字化仪的设计与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| ·集成电路自动化测试产业介绍 | 第10-12页 |
| ·模拟 IC 测试简介 | 第12-16页 |
| ·面向模拟 IC 测试的数字化仪发展现状 | 第16页 |
| ·课题的来源及意义 | 第16-17页 |
| ·本文研究的内容及结构安排 | 第17-18页 |
| 第二章 总体设计 | 第18-32页 |
| ·采样定理 | 第18-20页 |
| ·时域采样定理 | 第18-19页 |
| ·频域采样定理 | 第19-20页 |
| ·模拟信号数字化过程 | 第20-25页 |
| ·信号调理 | 第20-21页 |
| ·采样过程 | 第21-22页 |
| ·保持过程 | 第22-23页 |
| ·量化过程 | 第23-24页 |
| ·编码过程 | 第24-25页 |
| ·采样时钟分析 | 第25-26页 |
| ·数字化仪系统架构 | 第26-31页 |
| ·数字化仪性能指标 | 第27页 |
| ·硬件架构 | 第27-28页 |
| ·软件架构 | 第28-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 数字化仪硬件电路设计 | 第32-56页 |
| ·数字化仪硬件结构 | 第32-33页 |
| ·模拟信号调理 | 第33-43页 |
| ·模拟信号输入保护 | 第33-34页 |
| ·差分接收 | 第34-37页 |
| ·抗混叠滤波器的设计 | 第37-39页 |
| ·增益调整 | 第39-42页 |
| ·直流补偿 | 第42-43页 |
| ·模/数转换电路 | 第43-47页 |
| ·校准电路 | 第47-49页 |
| ·触发电路 | 第49-51页 |
| ·大容量高速存储器 | 第51-52页 |
| ·FPGA 配置和接口电路 | 第52-53页 |
| ·印制电路板设计 | 第53-55页 |
| ·元器件的布局 | 第53-54页 |
| ·特殊信号线的约束 | 第54页 |
| ·电源网络设计 | 第54页 |
| ·防止静电的危害 | 第54-55页 |
| ·阻抗匹配 | 第55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第四章 FPGA 数字逻辑设计 | 第56-69页 |
| ·总体逻辑设计 | 第56-58页 |
| ·关键模块的逻辑实现 | 第58-68页 |
| ·指令译码逻辑 | 第58-59页 |
| ·采样时钟产生模块 | 第59-61页 |
| ·数据缓冲（FIFO） | 第61-63页 |
| ·SDRAM 控制器 | 第63-67页 |
| ·增益控制模块 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第五章 测试数据与结果分析 | 第69-79页 |
| ·子模块测试 | 第69-75页 |
| ·差分接收测试 | 第69-70页 |
| ·抗混叠滤波器测试 | 第70页 |
| ·增益调整测试 | 第70-72页 |
| ·直流偏置测试 | 第72-73页 |
| ·触发机制测试 | 第73-74页 |
| ·差分驱动测试结果 | 第74-75页 |
| ·系统整体测试 | 第75-76页 |
| ·误差的分析与消除 | 第76-78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 结论与展望 | 第79-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 攻读硕士期间取得成果 | 第84-85页 |
