混合集成电路测试系统上位机软件设计
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-11页 |
第一章 绪论 | 第11-16页 |
·课题研究背景及意义 | 第11-12页 |
·混合集成电路测试的发展现状 | 第12-13页 |
·混合信号测试的难点 | 第13页 |
·混合集成电路测试的发展趋势 | 第13-14页 |
·本课题的来源 | 第14页 |
·本文的研究内容和章节安排 | 第14-16页 |
第二章 混合集成电路测试系统总体介绍 | 第16-22页 |
·混合集成电路测试系统概述 | 第16-17页 |
·系统设计原理 | 第17-19页 |
·直流参数测试 | 第17页 |
·交流参数测试 | 第17-18页 |
·功能测试 | 第18页 |
·混合信号测试 | 第18-19页 |
·测试系统的组成 | 第19-21页 |
·系统硬件总体结构 | 第20页 |
·硬件各个模块简介 | 第20-21页 |
·本章小结 | 第21-22页 |
第三章 混合集成电路测试系统软件总体设计 | 第22-31页 |
·系统软件需求分析 | 第22-24页 |
·功能需求分析 | 第22-24页 |
·性能需求分析 | 第24页 |
·用户界面需求分析 | 第24-26页 |
·系统软件总体结构 | 第26-30页 |
·软件开发环境 | 第26-27页 |
·软件总体结构 | 第27-28页 |
·软件设计流程 | 第28-30页 |
·本章小结 | 第30-31页 |
第四章 上位机软件模块设计 | 第31-55页 |
·上位机软件功能介绍 | 第31-33页 |
·工程师模块 | 第31-32页 |
·生产者模块 | 第32-33页 |
·工程师模块设计 | 第33-48页 |
·功能测试设计 | 第33-44页 |
·直流参数测试设计 | 第44-46页 |
·交流参数测试设计 | 第46-47页 |
·工程师模块测试流程 | 第47-48页 |
·生产者模块设计 | 第48-54页 |
·测试信息显示 | 第48-50页 |
·测试数据统计 | 第50-51页 |
·测试数据查看 | 第51-52页 |
·生产者模块测试流程 | 第52-54页 |
·本章小结 | 第54-55页 |
第五章 上位机软件实现的关键技术 | 第55-65页 |
·动态链接库的调用 | 第55-57页 |
·数据库技术 | 第57-62页 |
·数据库设计基本原则 | 第57-58页 |
·数据库表的设计 | 第58-60页 |
·XML 文件的使用 | 第60-62页 |
·多线程技术 | 第62-64页 |
·线程建立和启动 | 第62-63页 |
·跨线程访问控件解决方法 | 第63-64页 |
·本章小结 | 第64-65页 |
第六章 测试软件调试与应用 | 第65-76页 |
·软件调试方法 | 第65页 |
·软件运行环境 | 第65-66页 |
·软件调试结果分析 | 第66-67页 |
·RXXX 芯片的测试 | 第67-75页 |
·测试方法 | 第68-70页 |
·上位机软件测试过程 | 第70-75页 |
·测试结果分析 | 第75页 |
·本章小结 | 第75-76页 |
第七章 总结与展望 | 第76-77页 |
致谢 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-80页 |
攻读硕士期间取得的研究成果 | 第80-81页 |