基于VIIS-EM平台的虚拟数字集成电路测试仪的研制
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| ·集成电路测试概述 | 第9-12页 |
| ·集成电路测试的定义以及基本原理 | 第9-10页 |
| ·集成电路测试的历史及国内外研究现状 | 第10-11页 |
| ·集成电路测试仪的研制意义 | 第11-12页 |
| ·VIIS-EM 系统平台概述 | 第12-15页 |
| ·VIIS-EM 系统的总体架构 | 第12-13页 |
| ·VIIS-EM 系统的软硬件平台 | 第13-15页 |
| ·VIIS-EM 系统的特点及优势 | 第15页 |
| ·论文研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 数字集成电路测试仪设计基础 | 第17-28页 |
| ·数字集成电路测试的原理 | 第17-21页 |
| ·基本概念 | 第17-18页 |
| ·数字集成电路测试的顺序 | 第18页 |
| ·接触性测试 | 第18-19页 |
| ·功能测试 | 第19-20页 |
| ·直流参数测试 | 第20-21页 |
| ·系统的总体设计方案 | 第21-23页 |
| ·系统总体的设计结构 | 第22页 |
| ·系统的功能模块分析 | 第22-23页 |
| ·系统总线通信技术 | 第23-27页 |
| ·仪器总线设计 | 第23-25页 |
| ·USB2.0 控制器设计 | 第25-27页 |
| ·系统的技术指标 | 第27-28页 |
| 第3章 虚拟数字集成电路测试仪的硬件电路结构 | 第28-39页 |
| ·系统硬件电路总体架构 | 第28页 |
| ·系统的模块化设计与实现 | 第28-39页 |
| ·总线接口通信模块 | 第28-30页 |
| ·信号激励模块 | 第30-34页 |
| ·数据采集模块 | 第34-37页 |
| ·电源转换模块 | 第37-39页 |
| 第4章 上位机软件的设计与实现 | 第39-50页 |
| ·LabVIEW 概述 | 第39页 |
| ·上位机软件的总体设计方案 | 第39-47页 |
| ·LabVIEW 控制界面设计 | 第39-42页 |
| ·调用外部程序 | 第42-43页 |
| ·数据处理 | 第43-47页 |
| ·数据库设计 | 第47-50页 |
| ·建立数据库连接 | 第47-48页 |
| ·数据库表操作 | 第48页 |
| ·数据库存取 | 第48-50页 |
| 第5章 系统调试及实验结果 | 第50-65页 |
| ·系统调试 | 第50-53页 |
| ·功能测试调试步骤 | 第50-52页 |
| ·直流参数测试调试步骤 | 第52-53页 |
| ·实测结果 | 第53-63页 |
| ·逻辑门芯片 SN74HC04N 检测 | 第53-57页 |
| ·显示译码器芯片 HD74LS145P 测试用例 | 第57-60页 |
| ·移位寄存器芯片 SN74HC164N 测试用例 | 第60-63页 |
| ·设计实物图示及系统展示 | 第63-65页 |
| ·设计实物图展示 | 第63页 |
| ·系统整体测试图展示 | 第63-65页 |
| 第6章 全文总结及下一步工作建议 | 第65-67页 |
| ·主要研究工作总结 | 第65-66页 |
| ·下一步工作建议 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 作者简介及在校期间所取得的研究成果 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
