相变存储器测试芯片测试技术研究

摘要	第1-5页
Abstract	第5-6页
目录	第6-8页
1 绪论	第8-14页
·存储器及其测试系统发展概况	第8-9页
·相变存储器简介	第9-10页
·相变存储器的应用及前景	第10-11页
·相变存储器的高阻与低阻	第11-12页
·相变存储器的操作过程	第12页
·本论文研究目的与内容结构	第12-14页
2 相变存储器的电特性参数	第14-24页
·相变存储器基本电学参数测试	第14-17页
·相变存储器测试芯片测试方法	第17-23页
·相变存储器对测试装置的要求	第23-24页
·本章小结	第24页
3 相变存储器测试芯片测试系统设计	第24-44页
·功能测试系统整体结构	第24-25页
·各模块的主要功能	第25-27页
·测试系统主要模块设计与实现	第27-31页
·可编程接口电路的设计	第31-38页
·相变存储器芯片测试系统性能测试	第38-42页
·本章小结	第42-44页
4 1Mbit 相变存储器测试芯片测试与分析	第44-62页
·芯片基本参数测试	第44-56页
·芯片功能测试	第56-61页
·本章小结	第61-62页
5 总结与展望	第62-63页
致谢	第63-64页
参考文献	第64-68页
附录1 攻读硕士学位期间发表的主要论文和申请专利	第68页