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SD卡与CF卡性能测试平台的研究与设计

摘要第1-6页
Abstract第6-11页
第1章 绪论1第11-17页
   ·课题背景及意义第11-12页
   ·SD、CF 卡测试系统现状和发展趋势第12-13页
     ·SD、CF 卡测试系统的发展现状第12-13页
     ·SD、CF 卡测试系统的发展趋势第13页
   ·高速测试电路设计概述第13-15页
     ·高速 PCB 层叠设计第14页
     ·高速 DDR 走线设计第14页
     ·电磁干扰 EMI 和电磁兼容性 EMC第14-15页
   ·本文研究的内容第15-17页
第2章 SD、CF 卡读写控制第17-37页
   ·SD 卡的读写第17-29页
     ·SD 卡的引脚功能第17-18页
     ·两种工作模式第18-19页
     ·SD 卡的读写控制第19-29页
   ·CF 卡的读写第29-37页
     ·CF 卡的结构和访问模式第29-31页
     ·CF 卡读写控制第31-37页
第3章 系统硬件设计第37-51页
   ·硬件总体结构设计第37-38页
   ·电源模块设计第38-42页
     ·固定电压模式的设计第38-40页
     ·可调电压模式的设计第40-42页
     ·电源供电抗干扰的设计第42页
   ·高速部分设计第42-46页
     ·PCI Express 与 PCI 的区别第43-44页
     ·PCI Express 与 USB 的区别第44-46页
     ·PCI Express 接口电路第46页
   ·与两种卡的接口设计第46-51页
     ·SD 卡接口电路第46-49页
     ·CF 卡接口电路第49-51页
第4章 PCI EXPRESS 构架与驱动概述第51-63页
   ·PCI EXPRESS 拓扑结构第51-53页
     ·基本结构元素第51-52页
     ·系统示例第52-53页
   ·PCI EXPRESS 事务协议第53-58页
   ·PCI EXPRESS 设备的层次第58-59页
   ·PCI EXPRESS 驱动概述第59-63页
第5章 测试部分53第63-69页
   ·测试平台的准备第63-64页
   ·两种卡驱动程序的安装第64页
   ·测试过程第64-69页
     ·设置电压模式第65页
     ·卡工作模式的设置第65-66页
     ·测试结果及分析第66-69页
第6章 总结与展望第69-71页
   ·总结第69-70页
   ·展望第70-71页
参考文献第71-77页
附录第77-79页
致谢第79页

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