面向固定型故障的测试向量生成与压缩方法研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| ·研究背景及意义 | 第10-12页 |
| ·集成电路测试研究背景 | 第10-11页 |
| ·研究目的及意义 | 第11-12页 |
| ·集成电路测试向量生成与压缩方法的研究现状 | 第12-17页 |
| ·集成电路故障模型的研究现状 | 第13-14页 |
| ·测试向量生成方法的研究现状 | 第14-16页 |
| ·测试向量压缩方法的研究现状 | 第16-17页 |
| ·本文主要研究内容及组织结构 | 第17-19页 |
| 第2章 测试生成与压缩方法的基本理论 | 第19-32页 |
| ·引言 | 第19-20页 |
| ·固定型故障研究 | 第20-23页 |
| ·固定型故障描述及应用 | 第20-23页 |
| ·故障等价与压缩 | 第23页 |
| ·测试生成方法 | 第23-28页 |
| ·测试生成方法分类 | 第24-26页 |
| ·组合电路测试生成基本概念 | 第26-27页 |
| ·时序电路测试生成 | 第27-28页 |
| ·测试压缩方法 | 第28-31页 |
| ·测试压缩分类 | 第29-30页 |
| ·测试激励压缩 | 第30-31页 |
| ·测试响应压缩 | 第31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 基于 D 算法的测试生成方法研究及实现 | 第32-52页 |
| ·引言 | 第32页 |
| ·D 算法相关理论知识研究 | 第32-36页 |
| ·D 算法在组合和时序电路中的应用 | 第36-40页 |
| ·D 算法在组合电路中的应用 | 第36-37页 |
| ·基于全扫描技术的时序电路测试向量生成 | 第37-38页 |
| ·实施过程及案例分析 | 第38-40页 |
| ·基于团划分和相容合并的生成结果优化技术 | 第40-41页 |
| ·D 算法的实现及验证 | 第41-51页 |
| ·ISCAS 基准电路特点及描述 | 第42-43页 |
| ·整体框架 | 第43-44页 |
| ·各部分的描述 | 第44-46页 |
| ·实验结果与分析 | 第46-49页 |
| ·生成算法的验证 | 第49-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第4章 测试向量压缩方法研究 | 第52-75页 |
| ·引言 | 第52页 |
| ·经典压缩方法研究 | 第52-58页 |
| ·游程类编码 | 第53-56页 |
| ·字典类编码 | 第56-58页 |
| ·基于参考向量和纠错码的测试向量压缩算法 | 第58-65页 |
| ·算法描述 | 第59-60页 |
| ·生成子向量过程 | 第60-61页 |
| ·团划分处理 | 第61页 |
| ·基于纠错码的编码方式 | 第61-62页 |
| ·解压缩设计 | 第62-64页 |
| ·实验结果分析 | 第64-65页 |
| ·基于数据块相容及字典的测试向量压缩方法 | 第65-74页 |
| ·算法描述 | 第65-67页 |
| ·数据块划分 | 第67页 |
| ·改进的汉明码编码 | 第67-69页 |
| ·解压缩设计 | 第69-70页 |
| ·实验结果分析 | 第70-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 结论 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-84页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第84-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
