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系统芯片BIST测试生成及其应用技术研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-8页
致谢第8-11页
插图清单第11-13页
表格清单第13-14页
第一章 绪论第14-19页
   ·研究背景及意义第14-16页
   ·BIST 测试生成技术的国内外研究现状第16-17页
   ·论文章节安排第17-19页
第二章 SoC 测试及 BIST 相关知识第19-29页
   ·测试理论基础第19-24页
     ·测试原理第19-20页
     ·故障模型与故障模拟第20-21页
     ·可测性设计第21-24页
   ·BIST 的简介以及相关测试生成的方法的研究第24-27页
     ·BIST 测试矢量生成第25-26页
     ·BIST 中的响应压缩分析第26-27页
   ·测试数据压缩技术研究第27-29页
第三章 BIST 中折叠计数器的研究第29-47页
   ·折叠计数器的相关知识第29-32页
     ·折叠计数器理论背景第29-30页
     ·折叠计数器的结构第30-32页
   ·基于选择状态转移的并行折叠计数器思想的提出及实现第32-34页
     ·并行折叠计数器的研究第32页
     ·并行折叠技术器的方案的提出第32-34页
   ·设计思想的提出第34-36页
   ·并行折叠计数器的实现第36-40页
   ·实验结果及分析第40-47页
     ·Modelsim 下行为仿真第40-43页
     ·Design Compiler 下的面积开销评估第43-44页
     ·测试应用时间的计算第44-47页
第四章 LFSR 在 BIST 和数据传输中的应用第47-56页
   ·LFSR 的相关知识介绍第47-48页
     ·LFSR 的结构第47-48页
     ·LFSR 的数学基础第48页
   ·基于 LFSR 的测试数据压缩方法的研究第48-51页
     ·LFSR 静态重播种第48-49页
     ·LFSR 动态重播种第49-51页
   ·LFSR 在数据传输中的应用第51-55页
     ·数据扰码原理第51-52页
     ·基于 m 序列的数据加扰器与解扰器的实现第52-55页
   ·实验结果分析第55-56页
第五章 总结与展望第56-57页
   ·论文工作总结第56页
   ·进一步研究工作第56-57页
参考文献第57-60页
攻读硕士学位期间发表的论文第60-61页

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