| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 一 课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1 研究背景 | 第9-10页 |
| 2 研究意义 | 第10页 |
| 二 国内外发展及趋势 | 第10-11页 |
| 1 国内外发展情况 | 第10-11页 |
| 2 未来发展趋势 | 第11页 |
| 三 论文的主要内容及创新点 | 第11-12页 |
| 四 论文章节安排 | 第12-13页 |
| 第二章 UNH-IOL 简介及相关测试用例分析 | 第13-24页 |
| 一 IOL 简介 | 第13-14页 |
| 二 IOL 以太网测试 | 第14-23页 |
| 1 IOL MAC 测试 | 第16-21页 |
| 2 IOL 流控测试 | 第21-23页 |
| 三 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 测试设备的 FPGA 逻辑实现 | 第24-58页 |
| 一 硬件环境 | 第24-27页 |
| 1 嵌入式处理器 TE6214 | 第25页 |
| 2 BCM5461 | 第25页 |
| 3 BCM5248 | 第25-26页 |
| 4 时钟芯片 TI6449 和 TI6437 | 第26页 |
| 5 Up Connector/Service Connetor | 第26页 |
| 6 FPGA | 第26页 |
| 7 总结 | 第26-27页 |
| 二 逻辑设计 | 第27-51页 |
| 1 概述 | 第27页 |
| 2 系统架构 | 第27-30页 |
| 3 各模块详细设计 | 第30-47页 |
| 4 时序约束 | 第47-51页 |
| 三 仿真及编译加载 | 第51-56页 |
| 1 仿真 | 第51-54页 |
| 2 编译加载 | 第54-56页 |
| 四 本章小结 | 第56-58页 |
| 第四章 测试设备的实际测试 | 第58-65页 |
| 一 TestPlatform 测试环境搭建 | 第58-59页 |
| 二 芯片 SXX01 测试验证 | 第59-64页 |
| 1 芯片 SXX01 的 RGMII 接口接收测试 | 第59-61页 |
| 2 芯片 SXX01 的 RGMII 接口发送测试 | 第61-64页 |
| 三 本章小结 | 第64-65页 |
| 总结与展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 附件 | 第71页 |
