基于FPGA的高精度DAC测试方法研究与实现
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究的背景和意义 | 第7-8页 |
| ·高精度DAC测试研究现状及所面临的难题 | 第8-10页 |
| ·高精度DAC测试研究现状 | 第8-9页 |
| ·高精度DAC测试所面临的难题 | 第9-10页 |
| ·本文组织结构 | 第10-11页 |
| 第二章 分段式电流舵DAC | 第11-23页 |
| ·分段式电流舵DAC原理 | 第11-15页 |
| ·二进制码DAC | 第12-13页 |
| ·温度计码DAC | 第13-14页 |
| ·分段式电流舵DAC | 第14-15页 |
| ·DAC性能参数 | 第15-22页 |
| ·DAC静态性能参数 | 第15-20页 |
| ·DAC动态性能参数 | 第20-22页 |
| ·小结 | 第22-23页 |
| 第三章 12 位分段式电流舵DAC测试方案设计 | 第23-31页 |
| ·待测DAC芯片 | 第23-24页 |
| ·DAC静态参数测试方案 | 第24-26页 |
| ·失调误差测量 | 第24页 |
| ·增益误差测量 | 第24页 |
| ·线性误差测量 | 第24-26页 |
| ·DAC动态参数测试方案 | 第26-27页 |
| ·时域特性测试 | 第26页 |
| ·频域特性测试 | 第26-27页 |
| ·分段式电流舵DAC整体测试方案 | 第27-29页 |
| ·测试方案综合考量 | 第27-28页 |
| ·基于FPGA的测试方案 | 第28-29页 |
| ·小结 | 第29-31页 |
| 第四章 基于FPGA的数字信号发生器设计 | 第31-47页 |
| ·FPGA片上资源 | 第31-32页 |
| ·DDS的基本原理 | 第32-36页 |
| ·DDS的工作原理 | 第33-34页 |
| ·DDS的具体结构 | 第34-35页 |
| ·NCO误差分析 | 第35-36页 |
| ·基于FPGA的数字信号发生器 | 第36-46页 |
| ·FPGA开发流程 | 第36-37页 |
| ·NCO的详细设计 | 第37-40页 |
| ·综合和仿真 | 第40-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第五章 高精度DAC测试平台设计 | 第47-65页 |
| ·高精度DAC测试电路设计 | 第47-53页 |
| ·数字信号输入模块 | 第47-48页 |
| ·输出放大模块 | 第48-51页 |
| ·芯片部分 | 第51页 |
| ·电源供电模块 | 第51-53页 |
| ·测试电路的PCB板设计 | 第53-56页 |
| ·高速混合信号PCB板设计 | 第53-54页 |
| ·差分信号的布线 | 第54-55页 |
| ·PCB测试板的设计 | 第55-56页 |
| ·测试仪器 | 第56-57页 |
| ·测试结果 | 第57-64页 |
| ·测试平台调试 | 第57-58页 |
| ·测试结果 | 第58-64页 |
| ·小结 | 第64-65页 |
| 第六章 总结和展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
