基于参数测量单元的芯片自动测试系统设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| ·课题研究背景 | 第7-8页 |
| ·论文主要内容 | 第8-9页 |
| 第二章 参数测量单元 | 第9-17页 |
| ·参数测量单元的发展历程 | 第9页 |
| ·两种典型的参数测量单元 | 第9-10页 |
| ·参数测量单元 AD5522 | 第10-16页 |
| ·AD5522 的基本功能和内部结构 | 第10-12页 |
| ·AD5222 的补偿电容 | 第12页 |
| ·AD5522 的工作模式 | 第12-14页 |
| ·AD5522 的寄存器选择和 DAC 配置 | 第14-16页 |
| ·AD5522 的逻辑时序 | 第16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 第三章 芯片自动测试系统的硬件设计 | 第17-43页 |
| ·XD431 芯片性能指标测试要求 | 第17-19页 |
| ·XD431 芯片 | 第17页 |
| ·XD431 芯片的性能指标 | 第17-19页 |
| ·芯片自动测试系统硬件设计方案 | 第19-20页 |
| ·电源电路设计 | 第20-25页 |
| ·整流滤波电路 | 第20-21页 |
| ·BUCK 电路 | 第21页 |
| ·输出电压调节电路 | 第21-22页 |
| ·论文设计的电源电路 | 第22-25页 |
| ·微控制器设计 | 第25-30页 |
| ·单片机系统 | 第25-26页 |
| ·SPI 通信 | 第26-28页 |
| ·LCD 显示 | 第28-29页 |
| ·程序下载 | 第29-30页 |
| ·参数测量模块电路设计 | 第30-38页 |
| ·AD5522 外围电路设计 | 第31-33页 |
| ·A/D 转换电路设计 | 第33-35页 |
| ·运算放大器电路设计 | 第35-37页 |
| ·电流测量电路设计 | 第37-38页 |
| ·待测芯片连接电路设计 | 第38-41页 |
| ·继电器 | 第38-39页 |
| ·继电器驱动电路 | 第39-40页 |
| ·XD431 引脚连接电路 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第四章 芯片自动测试系统的软件设计 | 第43-59页 |
| ·芯片 XD431 自动测试系统的软件设计 | 第43-44页 |
| ·参考电压测量模块 | 第44-46页 |
| ·参考电流测量模块 | 第46-47页 |
| ·最小电流测量模块 | 第47-49页 |
| ·关断电流测量模块 | 第49-51页 |
| ·动态阻抗测量模块 | 第51-53页 |
| ·电压变化比测量模块 | 第53-55页 |
| ·结果显示模块 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第五章 总结和展望 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 硕士期间科研成果 | 第65-66页 |
