| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| ·引言 | 第11页 |
| ·生产调度问题简介 | 第11-14页 |
| ·生产调度问题 | 第11-12页 |
| ·三参数表示 | 第12-14页 |
| ·半导体生产调度 | 第14-15页 |
| ·工艺流程 | 第14页 |
| ·问题特点 | 第14-15页 |
| ·本文主要内容及结构安排 | 第15-17页 |
| ·主要内容 | 第15-16页 |
| ·结构安排 | 第16-17页 |
| 第2章 半导体功能测试工序调度优化 | 第17-32页 |
| ·功能测试工序调度问题介绍 | 第17-18页 |
| ·RSPS相关文献综述 | 第18-20页 |
| ·混合整数规划模型 | 第20-22页 |
| ·变量定义 | 第20页 |
| ·目标函数与约束函数 | 第20-22页 |
| ·求解RSPS的遗传算法 | 第22-24页 |
| ·遗传算法概述 | 第22页 |
| ·编码与解码 | 第22-23页 |
| ·适配值函数与初始化方法 | 第23-24页 |
| ·算子操作 | 第24页 |
| ·求解RSPS的变邻域搜索算法 | 第24-28页 |
| ·变邻域搜索算法总体流程 | 第25-26页 |
| ·编码解码、初始解与SA Acceptance | 第26页 |
| ·Shaking | 第26-27页 |
| ·Local Search | 第27-28页 |
| ·算例实验 | 第28-32页 |
| ·小规模算例 | 第28-29页 |
| ·大规模算例 | 第29-32页 |
| 第3章 半导体老化测试工序调度优化 | 第32-46页 |
| ·老化测试工序调度问题介绍 | 第32-33页 |
| ·STS相关文献综述 | 第33-34页 |
| ·混合整数规划模型 | 第34-35页 |
| ·变量定义 | 第34页 |
| ·目标函数与约束函数 | 第34-35页 |
| ·几种求解STS的智能优化算法 | 第35-38页 |
| ·遗传算法(Genetic Algorithm,GA) | 第35-36页 |
| ·模拟退火(Simulated Annealing,SA) | 第36页 |
| ·变邻域搜索(Variable Neighborhood Search,VNS) | 第36-37页 |
| ·混合变邻域搜索(VNSSA) | 第37页 |
| ·随机搜索(Random Search,RAN) | 第37-38页 |
| ·启发式规则(Heuristic Method,HM) | 第38页 |
| ·算例实验 | 第38-46页 |
| ·初始解随机生成的算法对比 | 第38-42页 |
| ·初始解由HM生成的算法对比 | 第42-46页 |
| 第4章 两阶段生产线调度优化 | 第46-59页 |
| ·半导体芯片测试生产线调度问题介绍 | 第46-47页 |
| ·RSFF相关文献综述 | 第47-48页 |
| ·混合整数规划模型 | 第48-51页 |
| ·参数定义 | 第49页 |
| ·变量定义 | 第49-50页 |
| ·目标函数与约束函数 | 第50-51页 |
| ·求解RSFF的混合微粒群算法 | 第51-55页 |
| ·微粒群算法概述 | 第51-52页 |
| ·CPSO总体流程 | 第52-53页 |
| ·编码与解码 | 第53-54页 |
| ·初始化与初始解码 | 第54页 |
| ·PSO更新操作 | 第54-55页 |
| ·第一工序局部优化 | 第55页 |
| ·第二工序局部优化 | 第55页 |
| ·问题下界 | 第55-56页 |
| ·算例实验 | 第56-59页 |
| ·小规模算例 | 第56-57页 |
| ·大规模算例 | 第57-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第66页 |
