| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-11页 |
| 1.1 研究目的和意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状和发展趋势 | 第8-9页 |
| 1.3 本文研究的主要内容及组织安排 | 第9-10页 |
| 1.4 本文的工作重点与创新点 | 第10-11页 |
| 第2章 总体方案设计 | 第11-15页 |
| 2.1 仿真器及编程器的生产检测概述 | 第11-12页 |
| 2.2 总体设计思路 | 第12页 |
| 2.3 自动测试系统各模块功能说明 | 第12-15页 |
| 第3章 测试系统检测电路设计 | 第15-25页 |
| 3.1 主控板电路设计 | 第15-20页 |
| 3.1.1 MSP430F5438硬件资源简介 | 第15-16页 |
| 3.1.2 电源部分 | 第16-17页 |
| 3.1.3 LCD显示部分 | 第17-19页 |
| 3.1.4 通信模块 | 第19-20页 |
| 3.1.5 A/D信号采集模块 | 第20页 |
| 3.2 辅助扩展板电路设计 | 第20-25页 |
| 3.2.1 扩展板电源线部分 | 第21页 |
| 3.2.2 扩展板JTAG烧写线部分 | 第21-23页 |
| 3.2.3 扩展板信号线部分 | 第23-25页 |
| 第4章 测试系统检测程序设计 | 第25-45页 |
| 4.1 主控板检测控制程序 | 第25-34页 |
| 4.1.1 烧写测试流程控制 | 第25-27页 |
| 4.1.2 被测对象UUT的硬件测试 | 第27-29页 |
| 4.1.3 人机交互界面 | 第29-32页 |
| 4.1.4 全自动测试 | 第32-33页 |
| 4.1.5 故障报警 | 第33-34页 |
| 4.2 四类MSP430工具测试程序 | 第34-45页 |
| 4.2.1 晶振测试 | 第35-36页 |
| 4.2.2 通讯测试 | 第36-37页 |
| 4.2.3 电压测试 | 第37-39页 |
| 4.2.4 硬件通路测试 | 第39-42页 |
| 4.2.5 FLASH、FRAM、EEPROM测试 | 第42-43页 |
| 4.2.6 获取设备ID | 第43-45页 |
| 第5章 MSP430工具PC上位机软件设计 | 第45-51页 |
| 5.1 PC上位机软件功能测试模块 | 第45-48页 |
| 5.2 PC上位机软件条码纠错模块 | 第48-51页 |
| 第6章 测试治具架构设计 | 第51-57页 |
| 6.1 测试治具前面板配置 | 第52-53页 |
| 6.2 测试治具后面板配置 | 第53-54页 |
| 6.3 测试治具针床 | 第54-55页 |
| 6.4 UUT切换 | 第55-57页 |
| 第7章 测试系统整体调试及现场应用 | 第57-60页 |
| 第8章 结论 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 附录 | 第65页 |