| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 集成电路测试的国内外研究历史与现状 | 第12-13页 |
| 1.3 集成电路测试介绍 | 第13-14页 |
| 1.4 本文的主要贡献与创新 | 第14页 |
| 1.5 本论文的结构安排 | 第14-16页 |
| 第二章 高速差分接口芯片结构简述 | 第16-21页 |
| 2.1 DMUX芯片结构 | 第16-19页 |
| 2.2 高速输入接口 | 第19-20页 |
| 2.2.1 ECL接口 | 第19-20页 |
| 2.2.2 LVDS接口 | 第20页 |
| 2.3 本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 自动测试系统及程序概述 | 第21-35页 |
| 3.1 V93000测试系统简介 | 第21-29页 |
| 3.1.1 V93000硬件结构 | 第22-26页 |
| 3.1.1.1 测试头介绍 | 第23页 |
| 3.1.1.2 数字板卡介绍 | 第23-25页 |
| 3.1.1.3 电源板卡介绍 | 第25-26页 |
| 3.1.2 V93000软件系统 | 第26-29页 |
| 3.1.2.1 V93000软件系统结构 | 第26-28页 |
| 3.1.2.2 V93000软件系统界面 | 第28-29页 |
| 3.2 测试程序简介 | 第29-34页 |
| 3.2.1 功能测试 | 第30页 |
| 3.2.2 DC（直流）参数测试 | 第30-33页 |
| 3.2.2.1 Open/Short测试 | 第30-31页 |
| 3.2.2.2 Dynamic IDD电流测试 | 第31-32页 |
| 3.2.2.3 VOH/IOH输出高电平测试 | 第32-33页 |
| 3.2.3 AC（交流）参数测试 | 第33-34页 |
| 3.2.3.1 Setup Time测试 | 第33页 |
| 3.2.3.2 Minimum Pulse Width测试 | 第33-34页 |
| 3.3 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 测试板设计技术 | 第35-43页 |
| 4.1 测试板简介 | 第35页 |
| 4.2 测试板设计方案 | 第35-42页 |
| 4.2.1 测试仪电源 | 第35-36页 |
| 4.2.2 测试仪板卡特性 | 第36页 |
| 4.2.3 DMUX芯片供电特点 | 第36-37页 |
| 4.2.4 测试板方案设计 | 第37-42页 |
| 4.2.4.1 高速测试板设计规则 | 第37-38页 |
| 4.2.4.2 测试板板材 | 第38-39页 |
| 4.2.4.3 测试板叠层及走线规则设计 | 第39页 |
| 4.2.4.4 测试座选用方案 | 第39-41页 |
| 4.2.4.5 DMUX测试板设计 | 第41-42页 |
| 4.3 本章小结 | 第42-43页 |
| 第五章 测试程序开发 | 第43-55页 |
| 5.1 功能验证 | 第43-51页 |
| 5.1.1 测试向量生成 | 第43-45页 |
| 5.1.2 管脚设置 | 第45-46页 |
| 5.1.3 电平设置 | 第46-47页 |
| 5.1.4 时序设置 | 第47-49页 |
| 5.1.5 TESTFLOW设置 | 第49-50页 |
| 5.1.6 测试方法代码设置 | 第50页 |
| 5.1.7 高速DMUX功能测试 | 第50-51页 |
| 5.2 高速信号抖动测试 | 第51-54页 |
| 5.2.1 抖动产生原因 | 第52页 |
| 5.2.2 测试仪抖动测试原理 | 第52-53页 |
| 5.2.3 测试仪抖动的测试方法 | 第53-54页 |
| 5.3 本章小结 | 第54-55页 |
| 第六章 自动测试实现 | 第55-60页 |
| 6.1 自动分选机 | 第56-57页 |
| 6.2 自动化测试实现 | 第57-59页 |
| 6.2.1 HANDLER与ATE的硬件连接 | 第57页 |
| 6.2.2 ATE软件实现及通讯方式 | 第57-58页 |
| 6.2.3 HANDLER软件 | 第58-59页 |
| 6.3 本章小结 | 第59-60页 |
| 第七章 全文总结与展望 | 第60-62页 |
| 7.1 全文总结 | 第60页 |
| 7.2 后续工作展望 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |