| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第14-23页 |
| 1.1 研究背景 | 第14-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16-20页 |
| 1.3 论文主要内容 | 第20-21页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第21-23页 |
| 第二章 差分串联电压开关逻辑理论基础 | 第23-30页 |
| 2.1 差分串联电压开关逻辑简介 | 第23-24页 |
| 2.2 DCVSL在单粒子瞬态效应中的应用 | 第24-27页 |
| 2.3 DCVSL在硬件木马检测中的应用 | 第27-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 DCVSL结构MOSFET晶体管尺寸的计算及优化 | 第30-46页 |
| 3.1 MOSFET晶体管alpha电流模型 | 第30-32页 |
| 3.2 MOSFET晶体管延时分析 | 第32-34页 |
| 3.3 MOSFET晶体管的电容分析 | 第34-36页 |
| 3.4 DCVSL结构反相器电容分析 | 第36-39页 |
| 3.5 DCVSL结构逻辑门的MOS管尺寸计算 | 第39-45页 |
| 3.6 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 DCVSL的单粒子瞬态效应特性分析 | 第46-67页 |
| 4.1 三维器件建模和工艺校准 | 第46-50页 |
| 4.2 DCVSL结构单粒子瞬态效应 | 第50-55页 |
| 4.3 DCVSL的SET传播特性分析 | 第55-66页 |
| 4.3.1 瞬态电流模型 | 第56-58页 |
| 4.3.2 SET脉冲在DCVSL单端的传播特性 | 第58-59页 |
| 4.3.3 负载不均衡条件下的SET脉冲展宽效应 | 第59-62页 |
| 4.3.4 Vt(阈值电压)不对称条件下的SET脉冲展宽效应 | 第62-66页 |
| 4.4 本章小节 | 第66-67页 |
| 第五章 基于DCVSL的硬件木马检测 | 第67-86页 |
| 5.1 短路电流 | 第67-68页 |
| 5.2 组合逻辑电路的硬件木马检测 | 第68-73页 |
| 5.3 时序电路的硬件木马检测 | 第73-79页 |
| 5.4 基于DCVSL的功耗分析硬件木马检测 | 第79-84页 |
| 5.5 本章小结 | 第84-86页 |
| 第六章 总结与展望 | 第86-88页 |
| 致谢 | 第88-89页 |
| 参考文献 | 第89-94页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第94页 |