基于电流的集成电路故障诊断研究
摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5页 |
目录 | 第6-8页 |
第一章 引言 | 第8-16页 |
1.1 研究背景和意义 | 第9-11页 |
1.2 目前国内外的研究现状 | 第11-15页 |
1.3 本文的研究内容 | 第15-16页 |
第二章 VLSI电路检测的基本知识 | 第16-27页 |
2.1 CMOS电路的结构及其特点 | 第16-18页 |
2.2 电流测试技术的基本概念 | 第18-19页 |
2.3 电路故障模型的类型 | 第19-21页 |
2.4 传统的电路检测方法 | 第21-24页 |
2.5 现代电路检测的技术 | 第24页 |
2.6 测试生成技术 | 第24-25页 |
2.7 仿真工具介绍 | 第25-27页 |
第三章 静态电流故障诊断的算法 | 第27-36页 |
3.1 静态电流检测的原理 | 第27-30页 |
3.2 IDDQ故障诊断的算法 | 第30-34页 |
3.2.1 故障诊断算法 | 第31-32页 |
3.2.2 仿真结果 | 第32-34页 |
3.3 小结 | 第34-36页 |
第四章 静态电流的诊断生成 | 第36-45页 |
4.1 传统的测试生成的方法 | 第36-38页 |
4.2 静态电流的检测生成算法 | 第38-39页 |
4.3 电路故障的表示方法和遗传算法简介 | 第39-40页 |
4.3.1 故障的表示方法 | 第39页 |
4.3.2 遗传算法简介 | 第39-40页 |
4.4 静态电流的诊断生成算法 | 第40-45页 |
4.4.1 诊断生成算法 | 第41-43页 |
4.4.2 实验仿真结果 | 第43-45页 |
第五章 动态电流检测 | 第45-58页 |
5.1 动态电流检测的原理 | 第45-47页 |
5.2 基础知识介绍(小波分析、模式识别理论) | 第47-52页 |
5.2.1 小波分析 | 第47-50页 |
5.2.2 特征选择问题 | 第50页 |
5.2.3 最近邻法 | 第50-51页 |
5.2.4 主成分分析 | 第51-52页 |
5.3 动态电流检测 | 第52-58页 |
5.3.1 特征空间和故障特征曲线 | 第53页 |
5.3.2 特征空间的选择 | 第53-54页 |
5.3.3 故障特征曲线的作法和诊断方法 | 第54页 |
5.3.4 实验结果 | 第54-55页 |
5.3.5 结论 | 第55-58页 |
第六章 结束语 | 第58-59页 |
致谢 | 第59-60页 |
参考文献 | 第60-63页 |
附录1 作者攻读硕士期间发表的学术论文 | 第63页 |