基于优化ATPG的可测试性设计与实现
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 研究的背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.1 测试技术挑战 | 第12-13页 |
| 1.2.2 半导体测试产业的困难 | 第13页 |
| 1.2.3 传统ATPG测试生产算法的局限 | 第13-14页 |
| 1.3 研究任务 | 第14-15页 |
| 1.4 论文结构 | 第15-17页 |
| 第二章 基于ATPG的芯片测试介绍 | 第17-36页 |
| 2.1 芯片故障模式 | 第17-18页 |
| 2.2 芯片基本测试原理与可测试性设计 | 第18-21页 |
| 2.3 ATE测试介绍 | 第21-26页 |
| 2.3.1 ATE测试向量 | 第22-23页 |
| 2.3.2 ATPG简介 | 第23-25页 |
| 2.3.3 EDA工具自动生产向量Partten | 第25-26页 |
| 2.4 ATPG测试向量生成的设计在芯片中的应用 | 第26-28页 |
| 2.4.1 自动测试模式生成(ATPG)技术 | 第26-27页 |
| 2.4.2 ATPG生成中的问题处理 | 第27-28页 |
| 2.5 ATPG的应用以及主要算法介绍 | 第28-33页 |
| 2.5.1 ATPG技术的应用过程 | 第28页 |
| 2.5.2 ATPG的主要过程 | 第28-30页 |
| 2.5.3 基于搜索方法的ATPG三种算法 | 第30-33页 |
| 2.6 ATPG代数方法及相关定义 | 第33页 |
| 2.7 两种代数公式算法的基础介绍 | 第33-35页 |
| 2.7.1 二叉判决图（BBD） | 第33-34页 |
| 2.7.2 可满足性(SAT) | 第34-35页 |
| 2.8 本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 基于可满足性SAT的ATPG应用 | 第36-44页 |
| 3.1 芯片的故障模型 | 第36-38页 |
| 3.2 布尔可满足性SAT方法简介 | 第38页 |
| 3.3 总体流程 | 第38-40页 |
| 3.4 建立模型 | 第40页 |
| 3.5 基于SAT的ATPG方法的其他应用 | 第40-42页 |
| 3.6 基于SAT的ATPG方法优点 | 第42-44页 |
| 第四章 结合BDD与SAT的ATPG产生方法 | 第44-54页 |
| 4.1 基于布尔方程的ATPG代数方法 | 第44-45页 |
| 4.2 结合BDD与SAT的测试产生方法 | 第45-53页 |
| 4.2.1 基于BDD和基于SAT的测试产生算法 | 第45-49页 |
| 4.2.2 两种算法之间的启发式选择策略 | 第49-51页 |
| 4.2.3 结合BDD与SAT的测试产生方法 | 第51-53页 |
| 4.3 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 混合HYBRID算法的实验验证和应用实现 | 第54-63页 |
| 5.1 运行时间对比 | 第56-57页 |
| 5.2 回溯次数对比 | 第57页 |
| 5.3 二叉图结点个数对比 | 第57-58页 |
| 5.4 内存占用率对比 | 第58页 |
| 5.5 实验结果分析 | 第58-59页 |
| 5.6 新算法的ATPG向量生成实践 | 第59-62页 |
| 5.7 本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 总结与展望 | 第63-66页 |
| 6.1 成果与工作总结 | 第63页 |
| 6.2 论文创新点 | 第63-64页 |
| 6.3 下一步研究计划 | 第64页 |
| 6.4 技术展望 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 附录A 本课题研究实现的部分流程伪码 | 第70-73页 |
