| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| 1.1 基于EDT的研究背景 | 第16-18页 |
| 1.2 可测性设计的发展现状及趋势 | 第18-19页 |
| 1.3 本项目需解决的问题 | 第19-20页 |
| 1.4 论文的主要工作和组织结构 | 第20-22页 |
| 第二章 测试压缩及EDT的核心思想 | 第22-36页 |
| 2.1 测试激励压缩方法 | 第23-26页 |
| 2.1.1 线性解压原理 | 第24页 |
| 2.1.2 组合线性解压器 | 第24-25页 |
| 2.1.3 时序线性解压器 | 第25-26页 |
| 2.2 测试响应压缩方法 | 第26-30页 |
| 2.2.1 零混淆线性压缩与X-压缩 | 第28-29页 |
| 2.2.2 X-隔离与X-屏蔽 | 第29-30页 |
| 2.3 EDT逻辑的核心思想 | 第30-31页 |
| 2.4 基于Test Kompress与DFTMAX的压缩逻辑对比 | 第31-35页 |
| 2.4.1 基于DFTMAX压缩逻辑的工作原理 | 第32-34页 |
| 2.4.2 基于DFTMAX压缩逻辑的不足 | 第34-35页 |
| 2.5 本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 EDT的组成部分、工作原理及相关的DRC | 第36-56页 |
| 3.1 控制电路(controller) | 第37-43页 |
| 3.1.1 控制电路的工作原理 | 第38-40页 |
| 3.1.2 XOR译码器的工作原理 | 第40页 |
| 3.1.3 One-Hot译码器的工作原理 | 第40-41页 |
| 3.1.4 低功耗控制单元的工作原理 | 第41-43页 |
| 3.2 解压缩（decompressor）电路 | 第43-45页 |
| 3.3 压缩（compactor）电路 | 第45-49页 |
| 3.3.1 压缩器的工作原理 | 第45-47页 |
| 3.3.2 Basic Compactor | 第47页 |
| 3.3.3 Xpress Compactor | 第47-48页 |
| 3.3.4 压缩器里masked扫描链的原理 | 第48-49页 |
| 3.4 旁路（bypass）电路 | 第49-50页 |
| 3.5 EDT逻辑相关的DRC violation | 第50-54页 |
| 3.5.1 调试K19的设计规则违例 | 第50-52页 |
| 3.5.2 调试K22的设计规则违例 | 第52-54页 |
| 3.6 本章小结 | 第54-56页 |
| 第四章 EDT结构在项目中的具体实现 | 第56-74页 |
| 4.1 整个设计中模块化的EDT结构 | 第56-58页 |
| 4.1.1 扫描链长度的分配 | 第57-58页 |
| 4.1.2 EDT模块的分配 | 第58页 |
| 4.2 EDT结构的配置 | 第58-59页 |
| 4.2.1 压缩率 | 第58-59页 |
| 4.2.2 输入通道和输出通道的分配 | 第59页 |
| 4.2.3 负沿寄存器的处理 | 第59页 |
| 4.3 基于EDT结构的通道共享的实现 | 第59-63页 |
| 4.3.1 相同EDT模块间的通道共享 | 第60页 |
| 4.3.2 不同EDT模块间的通道共享 | 第60-62页 |
| 4.3.3 整个设计中数据通道的分配 | 第62-63页 |
| 4.3.4 通道共享的适用场合和局限性 | 第63页 |
| 4.4 基于EDT结构和通道共享设计前后的性能分析 | 第63-70页 |
| 4.4.1 基于EDT和EDT bypass设计的性能分析 | 第64-65页 |
| 4.4.2 基于EDT结构利用通道共享技术前后的性能分析 | 第65-68页 |
| 4.4.3 基于EDT结构的测试向量仿真 | 第68-70页 |
| 4.5 测试压缩的发展趋势 | 第70-71页 |
| 4.6 本章小结 | 第71-74页 |
| 第五章 总结与展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |
| 作者简介 | 第80-81页 |
