基于形式验证方法的数字LTE芯片逻辑等价性分析及研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 缩略语对照表 | 第10-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-20页 |
| 1.1 论文背景及意义 | 第14-17页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第17-18页 |
| 1.3 论文研究重点及章节安排 | 第18-20页 |
| 第二章 验证方法学综述 | 第20-30页 |
| 2.1 动态验证技术 | 第20-21页 |
| 2.2 静态验证技术 | 第21-22页 |
| 2.2.1 静态时序验证 | 第21页 |
| 2.2.2 设计规则验证 | 第21-22页 |
| 2.2.3 版图验证 | 第22页 |
| 2.3 形式验证方法 | 第22-25页 |
| 2.3.1 定理证明 | 第23页 |
| 2.3.2 模型检测 | 第23-24页 |
| 2.3.3 等价性验证 | 第24-25页 |
| 2.4 工程中的形式验证 | 第25-28页 |
| 2.4.1 形式验证工具简介 | 第27页 |
| 2.4.2 LEC的等价性验证方法 | 第27-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-30页 |
| 第三章 LEC形式验证的流程 | 第30-48页 |
| 3.1 LEC形式验证准备阶段 | 第30-41页 |
| 3.1.1 环境搭建 | 第30-31页 |
| 3.1.2 初始化 | 第31-34页 |
| 3.1.3 读入文件和约束 | 第34-39页 |
| 3.1.4 选项设置 | 第39-41页 |
| 3.2 LEC形式验证对比阶段 | 第41-47页 |
| 3.2.1 平展化模式 | 第41-45页 |
| 3.2.2 层次化模式 | 第45-47页 |
| 3.3 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 逻辑等价性验证的结果分析 | 第48-74页 |
| 4.1 平展化模式的调试思路 | 第48-49页 |
| 4.2 平展化模式的结果分析 | 第49-61页 |
| 4.2.1 文件缺失 | 第49-51页 |
| 4.2.2 名称错误 | 第51-53页 |
| 4.2.3 UPF问题 | 第53-54页 |
| 4.2.4 扫描信号参与逻辑 | 第54-56页 |
| 4.2.5 设计或综合问题 | 第56-61页 |
| 4.3 层次化模式的调试思路 | 第61-62页 |
| 4.4 层次化模式的结果分析 | 第62-65页 |
| 4.4.1 DesignWare问题 | 第62-64页 |
| 4.4.2 实例化问题 | 第64-65页 |
| 4.5 等价性验证中断问题 | 第65-72页 |
| 4.5.1 中断的成因及危害 | 第65-66页 |
| 4.5.2 避免中断的方法 | 第66-67页 |
| 4.5.3 传统的中断解决方法 | 第67-69页 |
| 4.5.4 采用隔离对比法解决中断 | 第69-72页 |
| 4.6 本章小结 | 第72-74页 |
| 第五章 总结与展望 | 第74-76页 |
| 5.1 论文工作总结 | 第74-75页 |
| 5.2 进一步的工作展望 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 致谢 | 第80-82页 |
| 作者简介 | 第82-83页 |
