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基于扫描链的SoC可测性设计及故障诊断技术研究

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
第1章 绪论第15-21页
    1.1 研究背景及意义第15-16页
    1.2 SoC可测性设计及故障诊断概述第16-17页
    1.3 研究现状第17-19页
    1.4 本文主要工作第19-20页
    1.5 本文组织结构第20-21页
第2章 SoC可测性设计和故障诊断技术第21-26页
    2.1 概述第21页
    2.2 可测性设计第21-25页
        2.2.1 扫描设计第21-22页
        2.2.2 内建自测试设计第22-24页
        2.2.3 边界扫描设计第24-25页
    2.3 故障诊断技术第25页
    2.4 本章小结第25-26页
第3章 SoC集成扫描设计与逻辑内建自测试的DFT电路技术研究第26-40页
    3.1 概述第26-27页
    3.2 集成必要性及可行性分析第27-29页
        3.2.1 集成必要性分析第27页
        3.2.2 基于Mentor工具的集成可行性分析第27-29页
    3.3 基于Mentor工具的混合逻辑结构及工作原理第29-30页
        3.3.1 混合逻辑结构第29页
        3.3.2 混合逻辑工作原理第29-30页
    3.4 基于Mentor工具的TK/LBIST混合流程实现第30-39页
        3.4.1 测试点分析第30-34页
            3.4.1.1 测试点插入原则第31-32页
            3.4.1.2 实验结果第32-34页
        3.4.2 扫描链插入及未知态隔离第34-35页
            3.4.2.1 未知态隔离结构及意义第34页
            3.4.2.2 实验结果第34-35页
        3.4.3 EDT/LBIST混合IP逻辑生成及测试向量产生第35-38页
            3.4.3.1 混合IP基本结构生成第35页
            3.4.3.2 LBIST故障模拟与并行向量产生第35-36页
            3.4.3.3 LBIST串行测试向量生成第36-37页
            3.4.3.4 扫描测试向量生成第37-38页
        3.4.4 基于混合逻辑的测试项验证第38-39页
            3.4.4.1 验证准备工作第38页
            3.4.4.2 实验结果第38-39页
    3.5 本章小结第39-40页
第4章 SoC芯片内嵌IP核的扫描测试结构研究第40-52页
    4.1 概述第40页
    4.2 长链结构方案分析第40-41页
    4.3 基于Mentor工具压缩结构方案分析及改进第41-43页
        4.3.1 压缩结构第41-42页
        4.3.2 压缩结构改进第42-43页
        4.3.3 改进压缩结构可行性分析第43页
    4.4 测试结构整合第43-45页
    4.5 测试结构实际应用第45-47页
        4.5.1 覆盖率统计第45页
        4.5.2 仿真结果分析第45-47页
    4.6 测试结构进一步改进第47-51页
        4.6.1 简化型测试隔离结构第48-50页
        4.6.2 实验及结果分析第50-51页
    4.7 本章小结第51-52页
第5章 基于扫描链的SoC芯片硅后实速故障诊断技术研究第52-64页
    5.1 扫描实速测试原理第52-54页
    5.2 基于扫描链的故障诊断原理第54-55页
        5.2.1 链故障诊断第54页
        5.2.2 链时序故障第54-55页
        5.2.3 逻辑故障诊断第55页
    5.3 SoC芯片故障诊断平台第55-60页
        5.3.1 诊断平台第55-56页
        5.3.2 tessent diagnose工具简介第56-58页
        5.3.3 前期准备工作第58-60页
            5.3.3.1 日志转换脚本第58-59页
            5.3.3.2 诊断脚本第59-60页
    5.4 硅后诊断实际应用第60-63页
        5.4.1 加速机台测试调试过程的收敛第60-62页
        5.4.2 芯片频率问题第62-63页
    5.5 本章小结第63-64页
第6章 结论第64-67页
    6.1 论文工作总结第64-65页
    6.2 后续工作展望第65-67页
参考文献第67-71页
附录A 攻读学位期间所发表的学术论文第71-72页
致谢第72页

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