基于变换的测试数据压缩方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-21页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第12-13页 |
| 1.2 集成电路测试简介 | 第13-18页 |
| 1.2.1 测试流程 | 第13-14页 |
| 1.2.2 故障模型 | 第14-15页 |
| 1.2.3 测试生成 | 第15-16页 |
| 1.2.4 故障模拟 | 第16-17页 |
| 1.2.5 可测试性设计 | 第17页 |
| 1.2.6 测试数据压缩 | 第17-18页 |
| 1.3 测试面临的挑战 | 第18页 |
| 1.4 国内外研究现状 | 第18-20页 |
| 1.5 本文的主要工作和组织结构 | 第20-21页 |
| 第2章 相关工作 | 第21-31页 |
| 2.1 测试压缩原理 | 第21-22页 |
| 2.2 编码压缩 | 第22-27页 |
| 2.2.1 游程编码 | 第22-24页 |
| 2.2.2 字典编码 | 第24-25页 |
| 2.2.3 哈夫曼编码 | 第25-26页 |
| 2.2.4 其他编码 | 第26-27页 |
| 2.3 变换压缩 | 第27-28页 |
| 2.3.1 测试数据的相容性 | 第27页 |
| 2.3.2 哈达玛变换 | 第27-28页 |
| 2.4 变换拆分压缩技术 | 第28-30页 |
| 2.5 小结 | 第30-31页 |
| 第3章 参考位流相容变换 | 第31-44页 |
| 3.1 相关定义 | 第31-32页 |
| 3.2 位流相容预处理 | 第32-34页 |
| 3.3 拓展相容预处理 | 第34-35页 |
| 3.4 参考位流集变换与拆分 | 第35-36页 |
| 3.5 残分量集编码 | 第36-37页 |
| 3.6 硬件设计 | 第37-40页 |
| 3.6.1 函数产生与向量合成 | 第37-38页 |
| 3.6.2 参考位流相容变换的设计 | 第38-40页 |
| 3.7 实验结果 | 第40-43页 |
| 3.8 小结 | 第43-44页 |
| 第4章 变换矩阵 | 第44-50页 |
| 4.1 新的变换矩阵 | 第44-45页 |
| 4.2 硬件设计 | 第45-46页 |
| 4.3 实验结果 | 第46-49页 |
| 4.4 小结 | 第49-50页 |
| 结论 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-57页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第57-58页 |
| 附录B 攻读硕士学位期间参与项目目录 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
