基于谱变换的伪随机测试方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第12-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-16页 |
| 1.3 本文主要工作及组织结构 | 第16-18页 |
| 第2章 集成电路测试概念和内建自测试 | 第18-31页 |
| 2.1 集成电路测试概念 | 第18-22页 |
| 2.1.1 测试流程 | 第18-19页 |
| 2.1.2 故障模型 | 第19页 |
| 2.1.3 测试向量生成 | 第19-21页 |
| 2.1.4 故障模拟 | 第21-22页 |
| 2.2 内建自测试概述 | 第22-24页 |
| 2.3 内建自测试测试产生方法 | 第24-28页 |
| 2.3.1 穷举和伪穷举测试 | 第24-25页 |
| 2.3.2 伪随机和加权伪随机测试 | 第25-27页 |
| 2.3.3 存储和确定性产生测试方法 | 第27-28页 |
| 2.4 基于拆分测试集的新技术 | 第28-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 基于分组的谱变换伪随机测试方法 | 第31-44页 |
| 3.1 哈达玛变换 | 第31-33页 |
| 3.2 PRMOPT方法概述 | 第33-37页 |
| 3.2.1 测试集分组预处理 | 第33-35页 |
| 3.2.2 对分组测试集做变换 | 第35-36页 |
| 3.2.3 获取残分量及权值 | 第36页 |
| 3.2.4 随机扰动 | 第36-37页 |
| 3.3 硬件设计 | 第37-39页 |
| 3.4 实验结果 | 第39-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-44页 |
| 第4章 部分谱变换的受控随机测试方法 | 第44-56页 |
| 4.1 受控LFSR随机产生 | 第44-45页 |
| 4.2 实验方法描述以及过程 | 第45-52页 |
| 4.2.1 测试产生 | 第45页 |
| 4.2.2 部分哈达玛变换 | 第45-47页 |
| 4.2.3 可控LFSR部分伪随机产生 | 第47-52页 |
| 4.3 硬件设计 | 第52-53页 |
| 4.4 实验结果 | 第53-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
