基于扫描链阻塞技术降低测试费用的方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 插图索引 | 第9-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| ·测试的基本原理及成本分析 | 第13-14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-16页 |
| ·本文研究的目的和意义 | 第16-17页 |
| ·本文的主要工作和组织结构 | 第17-18页 |
| 第2章 集成电路可测性设计和测试方法 | 第18-37页 |
| ·故障及故障检测 | 第18-22页 |
| ·故障与故障模型的概念 | 第18-19页 |
| ·常见的故障模型 | 第19-22页 |
| ·故障模拟 | 第22-24页 |
| ·并行故障模拟 | 第23-24页 |
| ·演绎故障模拟 | 第24页 |
| ·并发故障模拟 | 第24页 |
| ·测试生成方法 | 第24-28页 |
| ·确定性算法的基本操作过程 | 第25-26页 |
| ·D算法 | 第26-27页 |
| ·PODEM算法 | 第27-28页 |
| ·FAN算法 | 第28页 |
| ·可测试性设计 | 第28-36页 |
| ·可测试性分析 | 第28-29页 |
| ·测试点插入技术 | 第29-30页 |
| ·全扫描设计 | 第30-32页 |
| ·部分扫描设计 | 第32-33页 |
| ·边界扫描设计 | 第33-34页 |
| ·内建自测试 | 第34-36页 |
| ·小结 | 第36-37页 |
| 第3章 基于TSP问题降低测试应用时间的方法 | 第37-51页 |
| ·引言 | 第37页 |
| ·多扫描链结构 | 第37-38页 |
| ·扫描链阻塞技术 | 第38-40页 |
| ·扫描链阻塞的基本结构 | 第38-39页 |
| ·测试功耗分析 | 第39-40页 |
| ·测试应用时间分析 | 第40页 |
| ·基于TSP问题测试应用时间的分析 | 第40-49页 |
| ·扫描链阻塞方案测试过程举例 | 第41-43页 |
| ·非完全D相容问题形式化描述 | 第43-45页 |
| ·TSP问题的转化 | 第45页 |
| ·基于TSP问题最小时间分析 | 第45-48页 |
| ·最小化测试应用时间算法 | 第48-49页 |
| ·实验结果与分析 | 第49-50页 |
| ·求最小测试应用时间模拟仿真流程 | 第49页 |
| ·实验结果分析 | 第49-50页 |
| ·小结 | 第50-51页 |
| 第4章 基于可控LFSR技术降低测试费用的方法 | 第51-58页 |
| ·引言 | 第51页 |
| ·LFSR的结构和基本原理 | 第51-53页 |
| ·标准的LFSR | 第51-52页 |
| ·n=4的LFSR举例 | 第52-53页 |
| ·可控LFSR的设计和分析 | 第53-54页 |
| ·改进的扫描链阻塞结构及工作原理 | 第54-56页 |
| ·工作原理 | 第54-55页 |
| ·测试数据存储量和测试应用时间分析 | 第55-56页 |
| ·实验结果与分析 | 第56-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间发表的论文和参加的项目 | 第66页 |
